[发明专利]智能卡掉电保护功能的测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及智能卡性能测试技术，尤其涉及智能卡掉电保护功能的测试系统及方法。

背景技术

智能卡又称为IC卡(Integrated Circuit Card/SMART card)。根据卡中使用的集成电路的不同可以分为存储器卡、逻辑加密卡、CPU卡和射频卡。由于CPU卡中集成了微处理器、存储单元以及芯片操作系统COS(Chip Operating System)，从而构成一个完整的计算机系统。

随着我国信息化的发展，智能卡越来越广泛地应用于金融、交通、电子商务、电子政务、通信、医疗保险和社会保险等行业，实现网络支付、身份验证、保密存贮和通信等功能。智能卡的掉电保护功能是智能卡的一项很重要的性能指标，它代表一个智能卡在突然掉电的情况下对正在进行业务的数据保护能力的强弱。因此，开发研制与之配套的智能卡掉电保护功能的测试装置及方法就变得非常迫切。

现有的智能卡掉电保护功能测试装置通过多采用人工插拔智能卡、突拔手机电池以及采用继电器通断操作等方式模拟智能卡突然掉电，从而实现对智能卡掉电保护功能的测试。这样的操作方式会导致出现以下一些问题：

(1)不能精确地模拟智能卡的在任意时刻的掉电过程，因此不能有效地测试智能卡突然掉电情况下的数据保护情况；

(2)模拟的掉电过程可能会产生抖动而导致出现其它问题，从而无法保证智能卡掉电保护功能的正确测试；

(3)采用人工或用继电器实现断电操作有很大的随机性，为了尽可能覆盖测试点，就得进行数万次操作，这样会导致完成测试的时间周期很长，且人力成本较高。

综上所述可知，需要提供一种智能卡掉电保护功能测试系统及方法，能够有效地测试智能卡在任意时刻突然掉电情况下的数据保护功能。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种智能卡掉电保护功能测试系统及方法，能够精确、有效地测试智能卡突然掉电情况下的数据保护功能。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种智能卡掉电保护功能测试系统，除了包括进行数据通信的读卡器和智能卡外，还包括一兆赫兹级的高速电子开关和一控制装置，其中：

高速电子开关，连接在读卡器和智能卡之间，并与控制装置连接，用于在控制装置的控制下接通或断开读卡器和智能卡；

控制装置，与读卡器连接，用于在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信；在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况。

进一步地

高速电子开关是高速模拟开关、数字开关或数字-模拟开关中的任意一种；

所述控制装置是32位CPU芯片，具有7816接口；在进行测试之前还设置测试参数，包括测试点、高速电子开关的通断频率以及测试模式中的一种或多种参数；根据设置的测试参数并通过控制通用输入输出接口定时控制高速电子开关的接通或断开；当控制高速电子开关接通且监测到读卡器通过高速电子开关与智能卡进行无损通信时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信；当控制高速电子开关断开时，根据提供的测试脚本对智能卡的数据保护状况进行测试。

进一步地，在测试参数中：

测试点包括在智能卡的卡内文件更新阶段、安全数据更改阶段的测试；

高速电子开关的通断频率依据测试精度的要求确定；

测试模式包括本装置测试脚本语言或高级测试脚本语言。

进一步地，该系统还包括与读卡器连接的上位测试终端，其中：

控制装置根据上位测试终端设置的测试参数及提供的测试脚本对智能卡掉电的数据保护状况进行测试，和/或将测试结果返回给上位测试终端；

上位测试终端，用于通过读卡器设置控制装置的测试参数，将测试脚本提供给控制装置，对下发到智能卡的测试指令以界面的形式显示并记录，根据控制装置返回的测试结果显示测试报告，供测试人员分析。

进一步地，

上位测试终端包括PC机、平板电脑、手机或掌上电脑中的任意一种终端。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种智能卡掉电保护功能测试方法，除了涉及进行数据通信的读卡器和智能卡外，还涉及兆赫兹的高速电子开关和控制装置，该方法包括：

将高速电子开关连接在读卡器和智能卡之间；

控制装置在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信，并在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况。

进一步地，在进行测试之前还包括：