[发明专利]一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种相位噪声能力验证比对装置，特别是一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置。

背景技术

目前市场上的相位噪声测量装置主要包括引进的HP3047A、HP3048A、E5500系列及PN9000，这些装置的组成主要包括：微波源、高稳晶振源、相位噪声测量装置。

对于这种大型、精密、复杂的测量系统，在对同一传递标准进行测量时，不同的相位噪声测量系统得到的相位噪声测量结果可能存在较大的离散性。以往通过开展相位噪声参量的比对测量，解决相位噪声测量系统无法溯源的问题。比对样品的频率为10MHz和10GHz，其中10MHz晶振用于校准相位噪声测量系统低端频率范围的性能指标，10GHz点频微波源是用于校准“相位噪声测量系统”高端频率范围的性能指标。

这种比对样品存在以下的几种缺点，其一是目前的相位噪声测量系统的检相输入频率范围可以覆盖到18GHz或26.5GHz，已经可以对Ku和K波段频率范围内的待测源进行测量。而以往的传递标准的最高频率是10GHz微波源，其只能用来校准X波段8GHz～12.5GHz的相位噪声测量系统性能指标，其频率覆盖范围明显不够。其二在以往能力验证中的传递标准是采用梳状谱产生的比对装置，但是由于梳状滤波器采用的是介质滤波器，其谐振频率只能作窄带调整，这样就造成了比对装置的微波源输出只能是单一的固定频率，梳状谱产生装置的优势没有显现。其三以往能力验证的传递标准中的微波源同轴输出为N型阴性接口，但是相位噪声测量系统的微波检相同轴输入为2.92cm的阴性接头，所以测量时需要微波同轴接头的转换器，给测量带来不便。

发明内容

本发明目的在于提供一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置，解决以往装置无法覆盖18GHz或26.5GHz输入频率范围，梳状谱产生装置的优势没有显现，装置中为单点微波源输出，以往能力验证的传递标准中的微波源同轴输出为N型阴性接口，给测量带来不便的问题。

一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置，包括：高稳晶振源A、高稳晶振源B、相位噪声测量装置，还包括：倍频器A、锁相环路A、低噪声压控振荡器A、隔离放大器A、倍频器B、梳状谱发生器A、YIG调谐滤波器A、PIN开关组合A、功率放大器组合A、微波源A、倍频器C、锁相环路B、低噪声压控振荡器B、隔离放大器B、倍频器D、梳状谱发生器B、YIG调谐滤波器B、PIN开关组合B、功率放大器组合B、微波源B。

高稳晶振源A的压控输入端与相位噪声测量装置的压控输出端射频电缆连接，高稳晶振源A的输出端与倍频器A的输入端射频电缆连接，倍频器A的输出端与锁相环路A的本振端射频电缆连接，低噪声压控振荡器A的输出端与隔离放大器A的输入端射频电缆连接，隔离放大器A的锁相端与锁相环路A的射频端射频电缆连接，锁相环路A的压控输出端与低噪声压控振荡器A的压控输入端射频电缆连接，隔离放大器A的倍频端与倍频器B的输入端射频电缆连接，倍频器B的输出端与梳状谱发生器A的输入端射频电缆连接，梳状谱发生器A的输出端与YIG调谐滤波器A的输入端微波电缆连接，YIG调谐滤波器A的输出端与PIN开关组合A的输入端微波电缆连接，PIN开关组合A的输出端与功率放大器组合A的输入端微波电缆连接，功率放大器组合A的输出端与微波源A的输入端微波电缆连接，微波源A的输出端与相位噪声测量装置的本振端微波电缆连接。

高稳晶振源B的输出端与倍频器C的输入端射频电缆连接，倍频器C的输出端与锁相环路B的本振端射频电缆连接，低噪声压控振荡器B的输出端与隔离放大器B的输入端射频电缆连接，隔离放大器B的锁相端与锁相环路B的射频端射频电缆连接，锁相环路B的压控输出端与低噪声压控振荡器B的压控输入端射频电缆连接，隔离放大器B的倍频端与倍频器D的输入端射频电缆连接，低噪声压控振荡器B输出端与隔离放大器B输入端射频电缆连接，倍频器D的输出端与梳状谱发生器B的输入端射频电缆连接，梳状谱发生器B的输出端与YIG调谐滤波器B的输入端微波电缆连接，YIG调谐滤波器B的输出端与PIN开关组合B的输入端微波电缆连接，PIN开关组合B的输出端与功率放大器组合B的输入端微波电缆连接，功率放大器组合B的输出端与微波源B的输入端微波电缆连接，微波源B的输出端与相位噪声测量装置的射频端微波电缆连接。