[发明专利]一种按键的矩阵键盘的测试方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种按键的矩阵键盘的测试方法。

【背景技术】

键盘广泛使用于各种电子设备，以作为电子设备的控制命令或数据输入的周边设备。因此键盘的品质优劣及其功能是否可以正常操作，将直接影响该电子设备的操作稳定性，并且由于键盘中最为直接的操作单元为按键，因此按键的测试对于键盘而言是重要的一环。

目前，对于按键的矩阵键盘的测试依赖于手动测试和回环口线测试两种方法，手动测试的方案存在测试效率低，需人工操作不确定性大的问题；回环口线测试的方案，测试效率高，但覆盖不了矩阵键盘口线的上下拉电阻。

【发明内容】

本发明要解决的技术问题，在于提供一种按键的矩阵键盘的测试方法，它能够实现自动测试，而且能够提高测试效率和测试覆盖率。

本发明是这样实现的：一种按键的矩阵键盘的测试方法，它需要包括一矩阵键盘、一可编程逻辑器件，

它包括如下步骤：

步骤1：所述矩阵键盘连接到CPU的线路通过测试点连接到可编程逻辑器件上，所述矩阵键盘上选择复数个按键，所述按键覆盖了矩阵键盘连接到CPU的所有口线；

步骤2：所述可编程逻辑器件模拟所选择的按键信号，将模拟按键信号通过测试点发送到CPU；

步骤3：所述CPU若是接收到所述可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接正常，若是接收不到可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接异常。

进一步的，所述步骤2的具体步骤包括：所述可编程逻辑器件进行复位，通过触发信号进行触发，经过设定的一段时间进入模拟第一按键的程序，将模拟的第一按键信号发送到CPU，再经过设定的时间，进入模拟下一个按键的程序，直至将所有选择的按键信号模拟完毕，再恢复复位状态。

进一步的，所述可编程逻辑器件为CPLD。

本发明的优点在于：

本发明将待测试的矩阵键盘通过测试点连接到可编程逻辑器件，通过可编程逻辑器件模拟按键按下后的按键信号，将按键信号发送到CPU，对矩阵键盘的各个口线的连接进行测试，从而实现了对矩阵键盘自动化测试的效果，提高了测试的效率，又覆盖了矩阵键盘口线的上下拉电阻，保证测试的准确性。

【附图说明】

下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。

图1是本发明的一实施例4*4矩阵键盘的电路结构示意图。

图2是本发明可编程逻辑器件的模块示意图。

图3是本发明一实施例中可编程逻辑器件6个状态的示意图。

【具体实施方式】

请参阅图1至图2所示，对本发明的实施例进行详细的说明。

一种按键的矩阵键盘的测试方法，它包括一矩阵键盘、一可编程逻辑器件，它包括如下步骤：

步骤1：所述矩阵键盘连接到CPU的线路通过测试点连接到可编程逻辑器件上，所述矩阵键盘上选择复数个按键，所述按键覆盖了矩阵键盘连接到CPU的所有口线；

步骤2：所述可编程逻辑器件模拟所选择的按键信号，将按键信号通过测试点发送到CPU；所述可编程逻辑器件进行复位，通过触发信号进行触发，经过设定的一段时间进入模拟第一按键的程序，将模拟的第一按键信号发送到CPU，再经过设定的时间，进入模拟下一个按键的程序，直至将所有选择的按键信号模拟完毕，再恢复复位状态。

步骤3：所述CPU若是接收到所述可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接正常，若是接收不到可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接异常。

结合图1，以4*4矩阵键盘为例，设行线为ROW0、ROW1、ROW2、ROW3为输出口线，设列线为KB_LINE0、KB_LINE1、KB_LINE2、KB_LINE3为输入口线。常态下LINE线通过上拉电阻拉为高电平1111，CPU通过ROW线输出全低电平0000。当图中ROW0和KB_LINE0组合的CLEAR按键按下时，读取键值为01110000，CPU判定此键值为CLEAR。

现在测试该4*4矩阵键盘，只要测试按键CLEAR(ROW0，KB_LINE0)、按键8(ROW1，KB_LINE1)、按键4(ROW2，KB_LINE2)、按键ALPHA(ROW3，KB_LINE3)，就可以全部测试到该矩阵键盘的KB_LINE0、KB_LINE1、KB_LINE2、KB_LINE3输入口线以及ROW0、ROW1、ROW2、ROW3输出口线。