[发明专利]一种多基线相位搜索式二维空间谱测向方法

权利要求书

1.一种多基线相位搜索式二维空间谱测向方法，首先构造阵列流型，然后计算各基线上两个天线接收信号的互相关，并对每根基线构造空间谱函数；最后构造多基线的总空间谱函数，并进行二维搜索，得到信号入射角。

2.根据权利要求1所述的多基线相位搜索式二维空间谱测向方法，其特征在于：所述阵列流型要求天线之间的距离与需接收信号的波长相近似。

3.根据权利要求1所述的多基线相位搜索式二维空间谱测向方法，其特征在于：所述阵列流型中的天线构成均匀圆阵。

4.根据权利要求1、2或3所述的多基线相位搜索式二维空间谱测向方法，其特征在于：

每根基线按照下述方式构造空间谱函数：

其中，N为接收采样获得数据的个数，n为接收采样获得数据的序号，Im(·)表示求复数的虚部，表示相位差，x_p(n)、x_q(n)分别表示第p个、第q个天线实际接收采样得到的复信号，“*”表示求复数的共扼运算，e表示自然对数，j为虚数单位。

5.根据权利要求4所述的多基线相位搜索式二维空间谱测向方法，其特征在于，按照下述方式构造多基线的总空间谱函数

分别用每条基线上的两个天线所接收采样得到的信号构造出一个二维空间谱函数然后将这些空间谱函数相加组成多基线的总空间谱函数。

6.根据权利要求4所述的多基线相位搜索式二维空间谱测向方法，其特征在于，按照下述方式构造多基线的总空间谱函数：

将每条基线对应的空间谱函数的倒数相加组成另一种多基线总空间谱函数

7.根据权利要求5所述的多基线相位搜索式二维空间谱测向方法，其特征在于，所述二维搜索是指对所得到的二维的总空间谱函数进行描点，并作出关于的三维空间谱图，确定该三维空间谱图中谱谷处所对应的入射角度

8.根据权利要求6所述的多基线相位搜索式二维空间谱测向方法，其特征在于，所述二维搜索是指对所得到的二维的总空间谱函数进行描点，并作出关于的三维空间谱图，确定该三维空间谱图中谱峰处所对应的入射角度