[发明专利]显示装置及其控制方法以及电子装置

说明书

技术领域

本发明是有关于一种控制方法，特别是有关于一种适用于感测装置的控制方法。

背景技术

图1表示已知电容式触控感测装置。如图1所示，已知电容式触控感测装置1包括感测阵列10、电容测量电路11、以及触控位置计算电路12。感测阵列10是由以水平方向延伸的多个水平感测电极EH1-EHm以及以垂直方向延伸的多个垂直感测电极EV1-EVn所形成。当一物体接触感测阵列10时，借由电容测量电路11来测量与感测电极相关联的电容，且电容感测电路11根据所测量到的电容来产生电容数据信号。接着，电容数据信号由触控位置计算电路12所提供的运算规则来做进行分析，以获得该物体的接触座标以及/或接触位置。

当一物体接触感测阵列10时，电容测量电路11所产生的电容数据信号的变化值是依据该物体的尺寸以及感测电极的尺寸。一般而言，当感测电极的宽度增加，电容数据信号的电位以及电位变化也随之增加。当感测电极的宽度大于该物体的尺寸时，电容数据信号具有最大的改变值。此外，电容测量电路11的输出噪声可能会受到感测电极的尺寸所影响。举例来说，假使感测电极的宽度大于该物体的尺寸，电容数据信号的电位达到最大值。然而，在此时，电容测量电路11的输出信号噪声比(signal-to-noise ratio，SNR)减少。换句话说，较宽的感测电极导致较高的输出噪声电位。

参阅图1，由电容测量电路11所测量到的电容可能是形成在一对垂直的感测电极的交越点上的交越电容(cross-capacitance)，也可能是形成在一感测电极与接地之间的自电容(self-capacitance)。电容测量电路11可利用差动电容测量来测量上述电容。在差动电容测量中，当一物体接触感测阵列10时，每两平行的感测电极用来获得一差动电容数据信号，以判断该物体的接触座标或接触位置。举例来说，使用两垂直感测电极以进行差动电容测量，以获得一差动电容数据信号。然而，在差动电容测量下，当两垂直感测电极间的水平距离与该物体的水平方向尺寸不匹配时，电容测量电路11的输出噪声可能增加，使得无法精准地判断该物体的接触座标或接触位置。

因此，期望能根据接触感测阵列10的物体尺寸来控制在差动电容测量时的感测电极的特性，例如感测电极的宽度以及两感测电极间的距离。

发明内容

本发明提供一种控制方法，适用于显示装置。此显示装置被至少一物体接触且包括由多个平行的感测电极所形成的感测阵列。此控制方法包括：识别该至少一物体在显示阵列上的接触区域；根据识别出的接触区域来估计该至少一物体的尺寸；以及根据该至少一物体的估计尺寸来决定多个感测电极中至少一者的宽度。

本发明另提供一种控制方法，适用于显示装置。此显示装置被至少一物体接触且包括由多个平行的感测电极所形成的感测阵列。在多个感测电极中每两感测电极被分组成为一测量电极组以进行显示装置的电容测量。每一测量电极组的两感测电极间的距离系沿着第一方向。此控制方法包括：识别该至少一物体在显示阵列上的接触区域；根据识别出的接触区域来估计该至少一物体的尺寸；以及根据该至少一物体的估计尺寸来决定每一测量电极组的两感测电极间的距离。

附图说明

为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明，其中：

图1表示已知电容式触控感测装置；

图2表示根据本发明实施例的显示装置的感测阵列；

图3表示根据本发明一实施例，适用于感测装置的控制方法的流程图；

图4表示根据本发明一实施例，由图3的控制方法所控制的感测装置；

图5表示根据本发明另一实施例，适用于感测装置的控制方法的流程图；

图6a表示根据本发明一实施例，由图5的控制方法所控制的感测装置；

图6b表示根据本发明一实施例的测量电极组；

图7表示使用由图3的控制方法所控制的感测装置或者是使用由图5的控制方法所控制的感测装置的显示装置；以及

图8表示使用图7所揭露的显示装置的电子装置。

主要元件符号说明：

图1：

1～电容式触控感测装置；

10～感测阵列；        11～电容测量电路；

12～触控位置计算电路；EH1-EHm～水平感测电极；

EV1-EVn～垂直感测电极；

图2：

EH1～水平感测电极；

EV1～垂直感测电极；

SEH1-SEH3～水平感测次电极；