[发明专利]一种提高LED芯片制造精度的方法无效

专利信息
申请号: 201110386625.2 申请日: 2011-11-29
公开(公告)号: CN103137794A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 汪洋;郝茂盛 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 led 芯片 制造 精度 方法
【权利要求书】:

1.一种提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于,该方法至少包括以下步骤:

步骤一,提供一蓝宝石衬底,在所述蓝宝石衬底上生长GaN外延层,伴随所述GaN外延层的生长所述蓝宝石衬底的边缘形成有外延层GaN突起;

步骤二,在所述GaN外延层表面旋涂流体保护材料以形成保护层;

步骤三,对所述保护层进行坚膜处理以形成LED晶片样品;

步骤四,对所述LED晶片样品的边缘进行斜角研磨以去除所述外延层GaN突起,以制造出整体厚度一致的LED晶片。

2.根据权利要求1所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:所述步骤二中的流体保护材料为保护液或光刻胶。

3.根据权利要求2所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:所述光刻胶的粘度为12cp。

4.根据权利要求1所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:所述步骤二中旋涂所述流体保护材料时,不间断且顺序执行以下步骤:

1)旋涂转速为700r/min时,旋涂时间为20s;

2)旋涂转速为3500r/min时,旋涂时间为15s;

3)旋涂转速为5000r/min时,旋涂时间为3s。

5.根据权利要求1所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:于所述步骤二中形成的保护层厚度为1-2μm。

6.根据权利要求1所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:所述步骤三中,采用加热烘烤蒸发技术对所述保护层进行坚膜处理,烘烤温度为85-95℃,烘烤时间为360s。

7.根据权利要求1所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:所述步骤四中,采用专用晶体倒角机对所述LED晶片样品的边缘进行斜角研磨。

8.根据权利要求7所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:所述斜角研磨为将所述专用晶体倒角机的砂轮面与所述LED晶片样品的上表面成45度角进行研磨。

9.根据权利要求8所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:所述LED晶片样品的边缘的研磨面幅为145-155μm。

10.根据权利要求8所述的提高LED芯片制造精度的方法,其特征在于:所述专用晶体倒角机的砂轮的粒度为400目。

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