[发明专利]放射线检测器、其制造方法和放射线摄影图像拍摄设备

说明书

技术领域

本发明涉及放射线(radiation)检测器，该放射线检测器具有用于将放射线转换为可见光的闪烁体和用于将可见光转换为电信号的光电二极管，以及放射线检测器的制造方法，以及包括放射线检测器的放射线摄影图像拍摄设备。

背景技术

在医疗领域，惯常从放射线源向受检者施加放射线并且用放射线摄影图像拍摄设备来检测透过受检者的放射线，由此拍摄受检者的放射线摄影图像。放射线摄影图像拍摄设备包括：闪烁体，用于将透过受检者的放射线转换为可见光；和放射线检测器，其具有光电检测器基板，该光电检测器基板包括用于将可见光转换为电荷的光电二极管。受检者的放射线摄影图像是基于光电二极管产生的电荷而产生的。

发明内容

上述类型的放射线摄影图像可能存在所谓的赝像，这种赝像随着温度升高而出现。人们认为这种赝像在放射线摄影图像中增强，因为由于温度升高构成放射线检测器中包括的像素和信号处理电路的半导体的特征趋于变化，如日本专利特开No.2007-222604中公开的。本发明的申请人进行的研究表明，即使当温度升高，如果放射线检测器中的图像拍摄区域中的温度分布的偏差(即，放射线检测器中的每个位置的温度差)很小，那么也不会发生显著的问题，但是如果温度分布发生了大的偏差，则可能相对容易出现赝像。尤其是在半导体的灵敏度随着温度变化时这种趋势就会显露出来。

如果在实际健康的身体区域的图像中出现赝像，则该赝像可能造成观察者错误地将该身体区域识别为患病区，因此赝像可能降低基于图像的诊断准确度。

之前进行了各种尝试来防止放射线摄影图像中出现赝像。例如，日本特开No.2007-222604公开了一种包括热辐射器的放射线摄影图像拍摄设备，该热辐射器释放由放射线检测器产生的热，以便由此防止温度增加。

日本特开No.63-243782公开了一种鉴于闪烁体的温度的变化所造成增益变化，基于放射线检测器检测放射线数据时的温度来校正由放射线检测器获得的放射线数据的技术。

在日本特开No.2007-222604中公开的放射线摄影图像拍摄设备要求热辐射器。因此，所公开的放射线摄影图像拍摄设备所包括的部件的数量较多、结构复杂、重量大并且制造成本高。

热辐射器可降低放射线摄影图像拍摄设备中的最大温度。然而，热辐射器趋于造成在从热辐射器隔开因而很难从其辐射热的区域和接近热辐射器因而容易辐射热的区域之间的温度差。这种温度差，或者说放射线摄影图像拍摄设备的温度分布的偏差易于产生被放射线摄影图像拍摄设备拍摄的放射线摄影图像中的赝像，因为在高温度和低温度区域中半导体分别显露出不同的特征。

日本特开No.63-243782中公开的放射线数据校正技术要求制造商进行复杂的任务来生成校正程序。此外，所公开的放射线数据校正技术要求复杂的系统布置，因为其要求控制电路来执行校正程序。

另外，温度分布的偏差所产生的赝像可能不一定能校正，这是因为温度分布的偏差是时间依赖的。此外，由于仅在放射线检测器被放射线照射时才识别由温度分布的偏差造成的放射线检测器的灵敏度的变化，或者说在放射线检测器被放射线照射之前都不能识别这种变化，所以从离线图像不一定能够校正赝像。

本发明的总体目的是提供一种放射线检测器，该放射线检测器由相对数量较少的部件组成，因此结构简单。

本发明的主要目的是提供一种放射线检测器，该放射线检测器具体地不需要校正程序。

本发明的另一个目的是提供一种放射线检测器，该放射线检测器能够有效地防止赝像被增强。

本发明的又一个目的是提供一种制造这种放射线检测器的方法。

本发明的又一个目的是提供一种包括这种放射线检测器的放射线摄影图像拍摄设备。

上述目的可通过以下[1]到[4]的布置来实现。

[1]一种放射线检测器，所述放射线检测器包括用于将放射线转换为可见光的闪烁体和用于将所述可见光转换为电荷的光电二极管，其中：

如果假定用A[％/K]表示闪烁体对放射线的灵敏度的温度依赖变化率并且用B[％/K]表示光电二极管对可见光的灵敏度的温度依赖变化率，则温度依赖变化率A和B满足以下不等式(1)：

-0.35[％/K]＜A+B＜0.35[％/K]…(1)

[2]一种放射线检测器的制造方法，所述放射线检测器包括用于将放射线转换为可见光的闪烁体和用于将所述可见光转换为电荷的光电二极管，所述方法包括以下步骤：

测量所述闪烁体的灵敏度对所述放射线的温度依赖变化率；以及