[发明专利]一种NVM内建自测电路的仿真测试系统有效

专利信息
申请号: 201110388391.5 申请日: 2011-11-29
公开(公告)号: CN103137211A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 雷冬梅;赵锋;张爱东 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 nvm 自测 电路 仿真 测试 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种NVM(Non-Volatile Memory,非易失性存储器)的仿真测试系统。

背景技术

内建自测(Built-in Self Test,简称BIST)技术是在电路设计中植入提供自我检测功能功能的电路,以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度。BIST技术可以应用于几乎所有电路,因此在半导体工业被广泛应用。

例如,在NVM中普遍使用的BIST技术包括在NVM电路中植入测试图形发生电路、时序电路、模式选择电路和调试测试电路等,它们被统称为BIST电路。

请参阅图1,这是一种现有的NVM的BIST电路的仿真测试系统。该系统包括有测试主机1;多个模拟模块21、22、23、……;NVM芯片电路31;NVM的BIST电路32。

该系统对NVM的BIST电路32进行测试的过程如下。测试主机1通过接口总线STROBE、TDIO、TCK向NVM的BIST电路32发送测试指令。所述测试指令包括测试模式(TESTMODE)等。NVM的BIST电路32执行接收到的指令,对NVM芯片电路31和各模拟模块21、22、23、……进行操作。NVM的BIST电路32再接收NVM芯片电路31和各模拟模块21、22、23、……所生成的仿真波形进行仿真正确性的验证。

上述NVM的BIST电路的仿真测试系统具有以下缺点。其一是波形检测效率低。其二是工作量大。其三是调试困难。其四是不能提供硅片测试机台测试向量。其五是不能自动检测测试向量的完整性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种对NVM的BIST电路进行自动检测的仿真测试系统,该系统可实现测试指令检测、指令执行时序检测、数据正确性检测及信息输出功能。

为解决上述技术问题,本发明一种NVM的BIST电路的仿真测试系统包括有测试主机;多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM的BIST电路、自动检测模块;

所述NVM内建自测电路与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路相连接;

所述自动检测模块与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路相连接;

所述自动检测模块具体包括:

对NVM内建自测电路的接口信号连接的准确性、以及NVM内建自测电路所接收指令的准确性进行检测的接口信号检测模块;

对系统状态及各状态下的信号进行检测的系统状态检测模块;

对NVM内建自测电路所接收指令的时序、并对各模拟模块和NVM内建自测电路的接口信号的时序进行检测的指令执行时序检测模块;

对测试向量进行统计、并对测试向量的完整性进行检测的测试完整性检测模块;

输出指令信息、指令执行时序信息、指令执行数据信息、错误信息、错误原因的数据输出模块;以及

对NVM内建自测电路所接收指令输出为测试向量的测试向量输出模块。

本发明实现了对NVM的BIST电路的自动检测、数据输出和测试向量输,具有如下优点:

其一,实现了系统的状态检测,自动完成了各状态下的信号检测。

其二,实现了BIST电路的接口信号及指令检测,及各指令执行时序及数据检测。

其三,实现了检测信息的分类详细输出。

其四,提供了测试向量的输出,可直接供硅片测试机台用。

其五,完成了测试完成性的检测,保证测试向量的完整性。

因此,通过本发明的仿真测试系统,可以大大减少对NVM的BIST电路进行检测的工作量,并保证了测试的完整性。

附图说明

图1是一种现有的NVM的BIST电路的仿真测试系统的结构示意图;

图2是本发明的NVM的BIST电路的仿真测试系统的结构示意图。

图中附图标记说明:

1为测试主机;21、22、23、……为各模拟模块;31为NVN芯片电路;32为NVM的BIST电路;4为自动检测模块;41为接口信号检测模块;42为系统状态检测模块;43为指令执行时序检测模块;44为测试完整性检测模块;45为数据输出模块;46为测试向量输出模块。

具体实施方式

请参阅图2,这是本发明一种NVM的BIST电路的仿真测试系统。该系统包括有测试主机1;多个模拟模块21、22、23、……;NVM芯片电路31;NVM的BIST电路32;自动检测模块4。

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