[发明专利]准直激光二维位移测量系统及利用该系统测量导轨的方法无效

专利信息
申请号: 201110392836.7 申请日: 2011-12-01
公开(公告)号: CN102506724A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 孙建华;袁科 申请(专利权)人: 西安华科光电有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/27;G01B11/16
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人: 李东京
地址: 710077 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 激光 二维 位移 测量 系统 利用 导轨 方法
【权利要求书】:

1.准直激光二维位移测量系统,包括激光准直光源、置放在待测导轨上的用于接收该激光准直光源发出的激光的接收靶、自该接收靶获取信息的控制盒及接收该控制盒传来的信息并对该信息进行处理的PC机,其特征在于:所述激光准直光源是发射十字激光束的激光准直仪;该十字激光束的水平光线与所述导轨的水平面平行,其垂直光线与所述导轨的水平面垂直;所述接收靶的靶面上至少设置有一用于检测所述十字激光束的水平光线的第一线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置和一用于测量所述十字激光束的垂直光线的第二线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置;所述接收靶通过其底座与所述导轨活动联接,使其能沿该导轨前后移动;所述第一线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置及第二线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置均与所述控制盒通讯;所述控制盒主要完成所述PC机的命令的接收和对所述第一线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置及第二线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置的控制、数据的传送以及电源的管理。

2.如权利要求1所述的准直激光二维位移测量系统,其特征在于:该系统还包括有一测量靶,该测量靶的靶面上至少设置有一第三线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置和一第四线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置;所述第三线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置用于接收所述十字激光束的水平光线,所述第四线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置用于接收所述十字激光束的垂直光线;所述第三线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置与第四线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置均通过所述控制盒与所述PC机联接;所述测量靶通过其底座与所述导轨活动联接,使其能沿该导轨前后移动。

3.如权利要求2所述的准直激光二维位移测量系统,其特征在于:所述接收靶或测量靶外设置有遮光罩,该遮光罩的前端面上对应于所述第一线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置、第二线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置、第三线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置或第四线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置处设置有入光槽。

4.如权利要求1或2或3所述的准直激光二维位移测量系统,其特征在于:所述接收靶上的第一线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置和第二线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置分别在该接收靶的靶面上沿水平方向和竖直方向设置;所述测量靶的靶面上的第三线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置和第四线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置分别在该测量靶的靶面上沿水平方向和竖直方向设置。

5.利用准直激光二维位移测量系统测量导轨的方法,其特征在于,在测量近距离短导轨时,将激光准直仪和接收靶分别置放在该近距离短导轨的两端端部,该激光准直仪将发射的十字激光束投射到该接收靶上,该接收靶通过其上设置的用于测量该十字激光束的水平光线的第一线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置和用于测量该十字激光束的垂直光线的第二线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置,分别探测所述水平光线和垂直光线的位置,并将该信息通过所述控制盒传输给所述PC机;在测量的过程中,该接收靶通过其底座与近距离短导轨活动联接,并沿该近距离短导轨前后移动,以实现对该近距离短导轨的扭曲度的测量。

6.如权利要求5所述的利用准直激光二维位移测量系统测量导轨的方法,其特征在于,在测量远距离长导轨时,将激光准直仪和接收靶分别置放在该远距离长导轨的两端端部,在该激光准直仪和接收靶之间的该远距离长轨道上置放测量靶,该激光准直仪将发射的十字激光束投射到该接收靶和测量靶上;

该接收靶通过其上设置的用于测量该十字激光束的垂直光线的第二线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置,探测垂直光线的位置,并将该信息通过所述控制盒传输给所述PC机;

该测量靶通过其上设置的用于接收所述十字激光束的水平光线的第三线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置和另一个用于接收所述十字激光束的垂直光线的第四线阵CCD激光光束位置与线宽检测装置,分别探测所述水平光线和垂直光线的位置,并将该信息通过所述控制盒传输给所述PC机;在测量的过程中,该测量靶通过其底座与所述远距离长导轨活动联接,使其能沿该远距离长导轨前后移动,以实现对该远距离长导轨的扭曲度的测量。

7.如权利要求6所述的利用准直激光二维位移测量系统测量导轨的方法,其特征在于:所述测量靶与所述接收靶的高度不等,确保该测量靶阻挡不了所述十字激光束入射到该接收靶上。

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