[发明专利]一种考虑约束条件的边界扫描测试方法

说明书

技术领域

本发明属于电路测试和故障诊断领域，涉及边界扫描测试，尤其涉及一种考虑约束条件的边界扫描测试方法。

背景技术

随着微电子技术进入超大规模集成电路时代，电路的高度复杂性及多层印制板、表面贴装(SMT)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路系统中的运用，使得电路节点的物理可访问性正逐步削减以至于消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试费用在电路和系统总费用中所占的比例在不断上升。针对电路的器件布局日益复杂、元器件复杂的封装、密集的管脚；线路板小型化、线越来越细等这些问题就会给电路的线路检测、线路板故障的检查以及排除带来很大的麻烦，用传统的ICT(线路检测设备)已经很难，而边界扫描技术则是解决这些问题的最优方法。

但是边界扫描测试过程中，尤其是芯片处于测试状态时，如互连测试等，会按照一定的测试算法生成测试向量，并将这些测试向量施加到边界扫描芯片的管脚上。此过程中由于并未考虑到电路本身的安全性，即施加测试向量过程中，由于电路处于测试状态，测试向量不能保证其他电路的状态处于安全状态。如果不进行处理，则可能会对其他器件造成损坏。采用其他测试设备对电路进行保护，可操作性差，且无法与边界扫描测试进行配合，实现难度较大。

因此需要提供一种开发成本低，使用方式简单的测试方法，保证边界扫描测试时电路其他部分的安全性，同时不会对常规的测试效果造成较大的影响。

发明内容

有鉴于此，本发明所要解决的技术问题是：在现有测试技术的基础上，提供一种基于边界扫描测试的约束方法，保证测试的安全性。

为解决上述技术问题，本发明具体方法如下：

一种考虑约束条件的边界扫描测试方法，包括如下步骤：

步骤1：根据被测电路中边界扫描器件的边界扫描管脚互连关系，确定测试网络，采用常规边界扫描测试算法生成相应的测试向量矩阵；

步骤2：分析被测电路中影响边界扫描测试正常进行的器件，或受到边界扫描测试的影响处于不确定状态影响被测电路电气特性的器件；

步骤3：针对步骤2确定的器件，确定与之相连的边界扫描器件及其连接管脚，称为约束管脚，确定约束管脚所要产生的约束向量，该约束向量中的元素值能够消除步骤2所述的影响；

步骤4：分析约束管脚是否在测试向量矩阵涉及的边界扫描管脚之中；如果不在其中，则直接将约束向量增加到测试向量矩阵中；如果在其中，则先将测试向量矩阵中与约束管脚相关的向量删除，再将约束向量增加到测试向量矩阵中；

步骤5：以重新组合的测试向量作为最终测试向量，施加该最终测试向量对被测电路进行测试。

优选地，当步骤2分析出被测电路中存在影响边界扫描测试正常进行的非边界扫描器件时，但步骤3未找到与所述非边界扫描器件相连的边界扫描器件，则：

确定非边界扫描器件对哪个或哪些测试网络状态有影响，将受影响的测试网络从测试对象中排除，重新生成相应的测试向量矩阵。

优选地，当步骤2分析出被测电路中存在受到边界扫描测试的影响处于不确定状态影响被测电路电气特性的非边界扫描器件时：

如果被影响的非边界扫描器件能够在边界扫描管脚A的控制下，不理会边界扫描器件发来的数据，那么在步骤3中将边界扫描管脚A确定为约束管脚，确定约束管脚所要产生的约束向量，该约束向量控制所述非边界扫描器件不理会除边界扫描管脚A之外其他边界扫描管脚发来的数据；

如果被影响的非边界扫描器件的状态不受控于任何边界扫描管脚，则那么在步骤3中将影响所述非边界扫描器件的测试网络上的边界扫描管脚确定为约束管脚，确定约束管脚所要产生的约束向量，该约束向量控制所述非边界扫描器件始终处于安全状态。

优选地，向测试向量矩阵增加约束向量时，分为如下两种情况：

(1)如果约束管脚所要产生的约束量为一固定值，则测试向量矩阵中增加一列，其元素值为所述约束量；

(2)如果约束管脚所要产生的约束量为按规律变化的p个值，则原测试向量矩阵的每一行重复p次，并在每一行后增加一个元素，为p个相同行向量增加的元素互不相同，所增加元素在约束管脚所要产生的p约束量中选取。

有益效果：

本发明通过施加约束的方式，确定非边界扫描器件的工作状态，在保证了测试的安全性，同时可提高测试的能力。

附图说明

图1为本发明所述考虑约束条件的边界扫描测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例1中的测试示例图；