[发明专利]一种曲轴无损检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测方法，尤其是一种曲轴无损检测方法。

背景技术

传统的曲轴无损检测工艺为磁粉检测加超声波纵波直探头检测。这两种检测结合的优点在于，能够将磁粉检测近表面（缺陷距表面＜1㎜）及表面开口缺陷的特点与超声波纵波直探头检测内部缺陷的特点相结合。

在实际生产过程中发现传统的曲轴无损检测工艺并不能将曲轴质量缺陷全部检出，例如近表面（缺陷距表面≥1㎜）缺陷、垂直于检测面（或与检测面成一定角度）的内部片状缺陷及特殊位置缺陷（指R圆弧内部缺陷）等。这些没有被检测出来的缺陷对曲轴的质量和后续工作会带来很大的影响和隐患。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种曲轴无损检测方法，在曲轴无损检测传统工艺的基础上，将探测焊缝的超声波横波斜探头的检测方法应用到曲轴检测上，本发明的技术方案是：

一种曲轴无损检测方法，包括磁粉检测和超声波纵波直探头检测，其特征在于还包括超声波横波斜探头检测。

所述超声波横波斜探头检测包括以下步骤：

（1）曲轴表面清洗；

（2）选择超声波横波斜探头；

（3）对超声波横波斜探头进行调试；

（4）通过超声波横波斜探头进行扫查；

（5）曲轴待检缺陷的判定，一般参照GB/T11345进行。

所述曲轴表面的粗糙度维持在Ra≤6.3μm。

所述调试的过程包括声速、零偏、K值的检测和DAC曲线的制作。

所述扫查的方式为锯齿形扫查。

扫查使用的耦合剂为机油或化学浆糊。

所述扫查的速度维持在v≤150㎜/s。

本发明的有益效果是：

(1)解决了传统工艺检测的不足之处，可以有效地检测出距离表面5-50㎜（一般情况下5㎜以内为加工量）之间的缺陷及R圆弧内部缺陷等，使工艺检测更加全面；

(2)给生产解决质量问题提供更加全面及可靠的无损检测数据；

(3) 避免了因前期无损检测工艺的不足，造成的成本浪费和使用的不良影响，将缺陷控制在检测阶段；

(4)操作简单，成本低廉，实用性强。

附图说明

图1是使用超声波横波斜探头检测曲轴局部的示意图。

其中：1是超声波横波斜探头，2是待检缺陷，3是曲轴。

具体实施方式

实施例：一种曲轴无损检测方法，包括以下步骤：

第一步：磁粉检测；

先将曲轴3需要检测的表面清理干净，不要有油污及其他附着物，然后采用局部漏磁检测或整体漏磁检测，其目的主要是针对表面及近表面（距表面﹤1㎜）缺陷。

第二步：超声波纵波直探头检测；

将曲轴3需要检测的表面清理干净，且表面粗糙度维持在Ra≤6.3μm；选用型号为2.5P20Z的纵波直探头进行调试，调试过程，包括声速、零偏的检测和AVG曲线的制作；调试后使用超声波纵波直探头进行扫查，扫查使用的耦合剂为机油，扫查速度维持在v≤150㎜/s，采用扫查方式为锯齿形扫查，主要是针对分布在曲轴内部较深的缺陷。

第三步：超声波横波斜探头检测；

所述超声波横波斜探头检测包括以下步骤：

（1）对曲轴3表面清洗；

（2）选择探头；生产实践中，对于曲面或较小的平面选用规格为2.5P9×9K2的探头较为合适，对于较大的平面选用规格为2.5P13×13K2的探头较为合适；

（3）对探头进行调试；所述调试的过程包括包括声速、零偏、K值的检测及DAC曲线的制作；

（4）通过超声波横波斜探头1对曲面3上的待检缺陷2进行扫查；扫查位置包括粗糙度Ra≤6.3μm的所有平面和曲面；所述扫查的方式为锯齿形扫查；扫查使用的耦合剂为化学浆糊；所述扫查的速度维持在v≤150㎜/s；

（5）曲轴缺陷的判断判定，一般参照GB/T11345进行。