[发明专利]一种获得超材料折射率分布的方法及其装置

权利要求书

1.一种获得超材料折射率分布的方法，其特征在于，包括：

采用仿真方式使电磁波透过所述超材料；

获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据，包括所述超材料相对于电磁波传输方向的后表面的实验相位分布数据；

获取实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息；

若所述实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息未达阈值时，改变所述超材料的折射率分布，并返回采用仿真方式使电磁波透过所述超材料的步骤，并循环，直至所述实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息达到阈值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述改变超材料的折射率分布的步骤包括：通过n个点插值的方式来拟合所述超材料的折射率分布，并且通过改变所述n个点中任何一个或以上个点的插值来改变折射率分布。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述改变n个点中任何一个或以上个点的插值来改变折射率分布的步骤包括：采用交叉熵算法改变所述n个点中任何一个或以上个点的插值来改变折射率分布。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述获取实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息的步骤包括：采用评价函数来衡量并获取实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述采用评价函数来衡量并获取实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息的步骤包括：采用评价函数来衡量并获取实验相位分布数据与目标相位分布数据的两数据曲线所夹住的面积。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，

所述获取用以描述和衡量超材料对电磁波响应的数据的步骤包括：利用matlab软件和comsol软件的接口提取出comsol软件内仿真得到的数据，以获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据。

7.一种获得超材料折射率分布的装置，其特征在于，包括：

仿真测试模块，用于采用仿真方式使电磁波透过所述超材料；

数据采集模块，用于获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据，包括所述超材料相对于电磁波传输方向的后表面的实验相位分布数据；

差距分析模块，用于获取实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息；

判断模块，用于在所述实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息未达阈值时，改变所述超材料的折射率分布，并返回仿真测试模块的步骤，并循环，直至所述实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息达到阈值。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述判断模块具体用于通过n个点插值的方式来拟合所述超材料的折射率分布，并且通过改变所述n个点中任何一个或以上个点的插值来改变折射率分布。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述差距分析模块具体用于采用评价函数来衡量并获取实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息。

10.根据权利要求7至9任一项所述的装置，其特征在于，

所述数据采集模块具体是利用matlab软件和comsol软件的接口提取出comsol软件内仿真得到的数据，以获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据。