[发明专利]一种低温等离子体活化直接键合的三维硅模具制备方法无效
申请号: | 201110402552.1 | 申请日: | 2011-12-07 |
公开(公告)号: | CN102431961A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | 廖广兰;卓锐;史铁林;聂磊;张昆 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低温 等离子体 活化 直接 三维 模具 制备 方法 | ||
1.一种等离子体活化直接键合的三维硅模具制备方法,其工艺步骤如下:
分层设计:将待制备微模具进行分层设计,选择与分层数量相同、对应层厚度相等的硅片作为每层的基底,需要键合的硅片表面为抛光面;
直接键合:对已刻蚀出图形的各硅片表面依次进行等离子体活化、预键合和低温退火工艺,完成多层硅片直接键合;
划片:划片批量得到带有三维形腔的微模具。
2.根据权利要求1所述的等离子体活化直接键合的三维硅模具制备方法,其特征在于,对于带图形的微模具,在分层设计与直接键合步骤之间进行深硅刻蚀:
将各层硅片采用光刻及ICP深硅刻蚀的方法,刻蚀出待制备零件相应各层的结构图形,然后再进行湿法清洗。
3.根据权利要求1或2所述的等离子体活化直接键合的三维硅模具制备方法,其特征在于,直接键合的具体步骤为:
(3.1)一次等离子体活化所有硅片的一个抛光表面,二次等离子体活化双抛硅片的另一面;表面活化气氛为氧气,流量50sccm~150sccm、射频功率50~150W、活化时间5~20s;
(3.2)对完成等离子体活化后的各硅片用去离子水冲洗,旋转甩干加烘干,按照从上往下的顺序对准贴合所有硅片;
(3.3)对贴合完成的多层硅片进行退火,退火温度160~300℃,退火时间3 h~72h,完成硅片的多层键合。
4.根据权利要求2所述的等离子体活化直接键合的三维硅模具制备方法,其特征在于,湿法清洗的具体过程为:
对各硅片表面依次进行丙酮超声清洗、去离子水冲洗、甩干表面水颗粒, 然后在80℃~120℃烘烤3min~10min。
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