[发明专利]精密伺服系统和方法

权利要求书

1.一种当读取记录的全息光盘(10)或在预格式化的全息光盘(10)中记录时用于伺服的方法，所述方法包括：

检测从所述全息光盘的目标数据层的目标数据轨道反射的初级束的初级信号，辐射的所述初级束包括第一波长；

将所述初级信号的功率测量与功率阈值比较；

在所述初级信号的所述功率测量低于所述功率阈值的情况下，检测从所述全息光盘的参考层反射的跟踪束的跟踪信号，辐射的跟踪束包括第二波长；

基于所述初级信号或所述跟踪信号产生伺服误差信号；以及

基于所述初级伺服误差信号或所述跟踪伺服误差信号致动光学子系统使得所述初级束聚焦在所述目标数据层上。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述检测初级信号包括检测来自反射初级束的反射功率分布。

3.如权利要求1所述的方法，其中所述检测跟踪信号包括检测来自反射跟踪束的反射功率分布。

4.一种当读取记录的全息光盘(10)或在预格式化的全息光盘(10)中记录时用于伺服的系统(80)，所述系统(80)包括：

第一检测器(84)，其配置成检测从所述全息光盘的目标数据层的目标数据轨道反射的初级束的初级信号(86)，所述初级束包括第一波长；

第二检测器(88)，其配置成检测从所述全息光盘的参考层反射的跟踪束的跟踪信号(90)，所述跟踪束包括第二波长；

处理子系统(92)，其包括：

配置成将所述初级信号的功率测量与功率阈值比较的比较器；

至少一个伺服误差发生器(98)，其配置成基于所述初级信号产生初级伺服误差信号或基于所述跟踪信号产生跟踪伺服误差信号；和

伺服控制器(104)，其配置成在所述功率测量大于或等于所述阈值的情况下基于所述初级伺服误差信号产生致动信号，或在所述功率测量小于所述阈值的情况下基于所述跟踪伺服误差信号产生致动信号(105)；以及

光学子系统(108)，其配置成基于所述致动信号(105)致动使得所述初级束聚焦在所述目标数据层上。

5.如权利要求4所述的系统(80)，其中所述参考层包括部分二向色涂层或部分金属化涂层中的至少一个。

6.一种当读取记录的全息光盘(10)或在预格式化的全息光盘(10)中记录时用于伺服的方法，所述方法包括：

检测从所述全息光盘的参考层反射的跟踪束的跟踪信号，其中辐射的所述跟踪束包括第一波长并且所述参考层包括部分二向色涂层或部分金属化涂层中的至少一个；

基于所述跟踪信号产生跟踪伺服误差信号；

基于所述跟踪伺服误差信号获得跟踪跑出曲线；

基于所述跟踪伺服误差信号致动光学子系统使得所述跟踪束聚焦在所述参考层上；

检测从所述全息光盘的目标数据层反射的辐射初级束的初级信号，所述辐射初级束包括第二波长；

基于所述初级信号产生初级伺服误差信号；

基于所述初级伺服误差信号和获得的跟踪跑出曲线致动所述光学子系统以将所述初级束聚焦在所述数据层上。

7.如权利要求6所述的方法，其中所述致动所述光学子系统包括基于分别从所述初级伺服误差信号或所述跟踪伺服误差信号产生的初级致动信号或跟踪致动信号而致动。