[发明专利]一种干法筛分物料及平均粒径测量的方法及筛分装置有效

专利信息
申请号: 201110404857.6 申请日: 2011-12-08
公开(公告)号: CN102441526A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 杨有余;莫建松;盛海强;程常杰 申请(专利权)人: 浙江天蓝环保技术股份有限公司
主分类号: B07B1/28 分类号: B07B1/28;B07B1/46;G01N15/02;G01N5/00
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 311202 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 筛分 物料 平均 粒径 测量 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种干法筛分石膏及平均粒径测量的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)轻压、捏碎石膏中结块颗粒,于45~55℃条件下恒温10~15h;

(2)将石膏干燥冷却至室温后,称量35~45g石膏于筛分装置的顶层筛面,将筛分装置及称量好的石膏置于50~55℃条件下预热40~50min,一次筛分5~10min。

(3)筛分结束后将筛分装置和石膏置于50~55℃条件下再次预热40~50min,二次筛分5~10min;

(4)二次筛分结束后,将各层筛面石膏颗粒收集、称量获得各层筛面石膏质量,用调和平均粒径计算公式计算石膏平均粒径。

2.根据权利要求1所述的干法筛分石膏及平均粒径测量的方法,其特征在于:所述石膏纯度在65%以上,石膏中CaCO3含量低于15%,其他杂质的总质量含量低于20%。

3.根据权利要求1所述的干法筛分石膏及平均粒径测量的方法,其特征在于:所述的筛分环境为:空气湿度保持在75%以下。

4.一种用于实现如权利要求1~3任一所述的干法筛分石膏及平均粒径测量的方法的筛分装置,其特征在于:所述的筛分装置包括若干个标准筛,按照孔径从大至小、从上至下依次摆放,最底层标准筛下附加托盘,顶层标准筛上附加顶盖;所述的标准筛外臂包裹有保温材料;所述的筛分装置外接振筛机。

5.根据权利要求4所述的筛分装置,其特征在于:所述的标准筛、底部托盘及顶盖均为不锈钢材质。

6.根据权利要求4所述的筛分装置,其特征在于:所述的标准筛直径为20.5cm,高5cm,所述的保温材料厚0.5cm,宽4cm。

7.根据权利要求4所述的筛分装置,其特征在于:所述的标准筛有6个,从上至下的各个标准筛的孔径分别为0.075、0.063、0.053、0.045、0.037、0.030mm。

8.根据权利要求4所述的筛分装置,其特征在于:所述的保温材料为酚醛树脂发泡材料。

9.根据权利要求4所述的筛分装置,其特征在于:所述的振筛机规格要求:筛子摇动次数:180~250min-1,顶击次数:130~160min-1

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