[发明专利]一种优化综合孔径阵构型的方法

权利要求书

1.一种优化综合孔径阵构型的方法，其特征在于，所述综合孔径阵具有N个望远镜单元，所述N个望远镜单元具有N*(N-1)个u-v点，其中，每个望远镜单元对应2*(N-1)个u-v点，该方法包括以下步骤：

为所述具有N个望远镜单元的综合孔径阵随机设置一初始构型；

使用一个带电粒子来表示所述N*(N-1)个u-v点中的每一个；

计算得到每个u-v点所受到的库伦力F_i，j，其中F_i，j表示第i个望远镜单元与第j个望远镜单元对应的u-v点所受的库伦力；

根据所述每个u-v点所受到的库伦力F_i，j计算得到每一个望远镜单元所受到的库伦合力F_i；

为每一个望远镜单元添加一耗散阻力f_i；

计算优化评价指标，所述优化评价指标达到某一条件时的构型即为优化的均匀分布构型。

2.如权利要求1所述的优化综合孔径阵构型的方法，其特征在于，所述带电粒子为带单位正电荷的粒子。

3.如权利要求1所述的优化综合孔径阵构型的方法，其特征在于，所述带电粒子由于库伦力的作用互相排斥，但又被限制在一个固定区域内。

4.如权利要求1所述的优化综合孔径阵构型的方法，其特征在于，所述每一个望远镜单元所受到的合力作用Fi表示为：

Fi=Σj=1N(Fi,j+Fj,i),j≠i.]]>

5.如权利要求1所述的优化综合孔径阵构型的方法，其特征在于，所述耗散阻力的大小正比于望远镜单元的移动速度，方向与望远镜单元的移动速度相反，即所述耗散阻力表示为：

f_i＝-λV_i，

其中，V_i为第i个望远镜单元的移动速度，λ为耗散系数，设为常数。

6.如权利要求1所述的优化综合孔径阵构型的方法，其特征在于，所述望远镜单元在库伦合力与耗散阻力的作用下发生移动。

7.如权利要求1所述的优化综合孔径阵构型的方法，其特征在于，所述优化评价指标为整个系统的库伦势能。