[发明专利]调试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种调试系统及方法，尤指一种基于SPI（serial peripheral interface，串行外设接口）总线的调试系统及方法。

背景技术

SPI总线系统是一种同步串行外设接口，它可以使MCU（Micro Control Unit，微控制单元）与各种外围设备以串行方式进行通信以交换信息。SPI总线主要用于连接微控制器于周边设备以使测试人员可对各周边设备进行读写处理。传统的调试方法是测试人员通过示波器或逻辑分析仪去分析SPI总线中的数据，示波器或逻辑分析仪分析数据非常繁琐，且不便于输入命令来读取或写入于连接的周边设备。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种方便读取或写入数据的调试系统及方法。

一种调试系统，所述调试系统包括一电脑及一调试装置，所述调试装置包括一SPI读写模块、一第一控制模块、一信号收发模块及一检测模块，所述电脑包括一第二控制模块及一显示模块，所述SPI读写模块用于连接一SPI设备，所述第二控制模块用于通过所述信号收发模块发送一输入的写命令给所述第一控制模块，所述第一控制模块用于根据所述写命令通过所述SPI读写模块写入数据于所述SPI设备中，所述检测模块用于在所述数据未写入所述SPI设备的情况下及所述数据的写入次数大于一预设次数后，发送一写入失败信息给所述第一控制模块，所述第一控制模块还用于通过所述信号收发模块发送所述写入失败信息给所述第二控制模块，所述第二控制模块还用于显示所述写入失败信息于所述显示模块上。

一实施例中，所述检测模块还用于在判断所述数据写入所述SPI设备成功后发送一写入完成信息给所述第一控制模块，所述第一控制模块还用于通过所述信号收发模块发送所述写入完成信息给所述第二控制模块，所述第二控制模块还用于显示所述写入完成信息于所述显示模块上。

一实施例中，所述调试装置包括一控制芯片，所述控制芯片包括所述SPI读写模块、所述第一存储模块、所述第一控制模块115及所述信号收发模块。

一实施例中，所述控制芯片为一微控制单元。

一实施例中，所述调试装置还包括一连接所述信号收发模块的第一无线模块，所述电脑还包括一连接所述第二控制模块的第二无线模块，所述对应的数据用于通过所述第一无线模块传送给所述第二无线模块。

一种调试方法，应用于一调试系统中，所述调试系统包括一调试装置及一电脑，所述调试装置连接一SPI设备，所述调试方法包括：

所述电脑发送一输入的写命令给所述调试装置；

所述调试装置根据所述写命令写入对应所述写命令的数据于所述SPI设备中；

所述调试装置判断所述数据未写入所述SPI设备后判断所述数据的写入次数是否大于一预设次数，若是，发送一写入失败信息给所述电脑；

所述电脑显示所述写入失败信息。

一实施例中，所述调试装置在判断所述数据写入所述SPI设备成功后发送一写入完成信息给所述电脑，所述电脑显示所述写入完成信息。

一实施例中，所述调试装置包括一微控制单元，所述微控制单元写入所述数据于所述SPI设备中。

一实施例中，所述调试装置包括一用于指示所述微控制单元的工作状态的LED灯。

与现有技术相比，在上述系统及方法中，电脑将一输入的写命令发给调试装置，调试装置根据所述写命令对所述SPI设备进行写入数据处理，并显示写入结果，简单方便。

附图说明

图1是本发明较佳实施例调试系统的示意图。

图2是本发明较佳实施例写入数据的调试方法的流程图。

主要元件符号说明