[发明专利]材料检测用的检测样品的研磨装夹装置

说明书

技术领域：

本发明属于对材料组织结构的分析研究技术领域，具体涉及一种材料检测用的检测样品的研磨装夹装置。

背景技术：

在材料研究中，材料热动力学分析（DMA）、超声实验（PEOM）和同轴压缩等方法是检测样品组织结构的常用测试手段，通过分析实验结果获得性能优异的材料。这些测试手段对样品要求严格，特别是压缩实验要求样品的上下表面必须平行并且具有很高的同轴度，如果不能达到实验要求，测试的结果将会产生很大误差。当样品的尺寸很小时（如直径小于2mm或者长度小于3mm的样品）测试要求更难达到。

现有的样品研磨方式主要是封样然后研磨，或者将样品放在片状夹具中。这两种方法所制备样品很难达到试验要求，例如封样研磨过程中很难保证样品上下表面同轴；利用片状夹具研磨过程中，样品经常会从夹具中脱落。如果需要制备多个样品，利用上述制备方法会严重加大工作量；如果样品的尺寸很小，采用上述方法研磨会严重增大制备难度。用现有的方法既费时又很难获得满足测试要求的样品，因此提出本发明用于样品制备。

发明内容：

综上所述，为了克服现有技术问题的不足，本发明提供了一种材料检测用的检测样品的研磨装夹装置，它可以同时对多个样品进行研磨操作，同时，由于装夹装置的尺寸远远大于样品的尺寸，因此在研磨时不容易发生斜歪，保证样品两端面的平行度，同时利用装夹装置中阳模上的凹槽垂直于阴模上的样品槽、样品槽平行于阴模轴线、阴模与阳模拼装后共轴，来实现样品研磨时样品始终处于竖直状态，从而保证样品两端面垂直于样品轴线。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是这样实现的：

一种材料检测用的检测样品的研磨装夹装置，其中：包括卡套、阴模及阳模，卡套为环形卡套，阴模与阳模拼装后设置在卡套内，卡套内壁上设置有滑槽，阴模及阳模的外壁上均设置有滑块，滑块设置在滑槽内，阴模与阳模拼装组成一个圆柱形整体，两者的接触面为曲面，阴模接触面内凹，阳模接触面外凸，阴模的内凹的表面设置有至少两个样品槽，样品槽平行于阴模的轴线，阳模的上部设置有垂直于阳模轴线的凹槽，凹槽内设置有耐磨垫，阳模与阴模拼装后共轴。

本发明的技术方案还可以是这样实现的：所述的卡套由两个半圆环组成，两个半圆环一端相互铰接，另一端通过紧固螺栓固定。

本发明的技术方案还可以是这样实现的：阴模与阳模的接触面上设置有两个定位销，阴模及阳模通过定位销定位。

本发明的技术方案还可以是这样实现的：所述的滑槽及滑块均为燕尾形。

本发明的技术方案还可以是这样实现的：所述的样品槽的截面形状为“V”型。

本发明的技术方案还可以是这样实现的：所述的耐磨垫为工程塑料垫，或为橡胶垫，或为胶皮垫，耐磨垫的厚度大于阳模凹槽的深度。

本发明的有益效果为：     

1、本发明是通过在阴模上设置多个样品槽来实现同时对多个样品进行研磨，解决了现有样品研磨效率低下的问题。

2、本发明的待测试的样品设置在样品槽内，因此阳模及阴模拼装后的尺寸要远远大于样品的尺寸，因此在研磨时不容易发生斜歪，保证样品两端面的平行度，，同时利用装夹装置中阳模上的凹槽垂直于阴模上的样品槽、样品槽平行于阴模轴线、阴模与阳模拼装后共轴，来实现样品研磨时样品始终处于竖直状态，从而保证样品两端面垂直于样品轴线。

3、本发明结构简单、操作使用方便、构思巧妙，能够有效的解决现有技术中样品研磨效率低下、研磨后样品两端面不平行或者端面与轴线不垂直等问题，很好的解决了现有技术的不足，为材料的性能研究提供条件，满足材料检测要求，同时节约检测成本，提高检测效率。

附图说明：

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明的A-A剖视示意图；

图3为本发明的阴模的结构示意图；

图4为本发明的阳模的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步的详细说明。