[发明专利]一种电容式触摸屏的触摸位置的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及触摸识别技术领域，尤其是涉及一种触摸屏的触摸位置的检测方法。

背景技术

在现有的技术中，触摸屏可以有多种实现方式，包括电阻式触摸屏、电容式触摸屏、表面红外触摸屏等。其中电容式触摸屏以透光率高、耐磨损、寿命长、可实现高级复杂功能(如多点触摸)而受到大众的欢迎。但是现有的电容式触摸屏的检测方法往往对触摸位置的识别不精确、灵敏度不高，以致出现误操作和遗漏操作。

发明内容

本发明提供了一种电容式触摸屏的触摸位置检测方法，可以有效提高对电容式触摸屏的触摸位置识别的准确度和灵敏度，以避免误操作和遗漏操作。

本发明触摸屏的触摸位置检测方法，所述触摸屏包括有正交的X和Y方向上两组多条感应线，所述方法包括如下步骤：

1)在未触摸所述触摸屏时，电容感应电路检测触摸屏X和Y方向上电容数值分布，并将数值组存储于记忆体中；

2)当触摸所述触摸屏时，电容感应电路检测触摸屏沿X方向上的电容数值分布，获取X方向上电容分布的波峰位置的电容数值和波峰位置坐标；电容感应电路检测触摸屏沿Y方向上的电容分布，获取Y方向上电容数值分布的波峰位置的电容数值和波峰位置坐标；

3)将触摸所述触摸屏时X方向上电容分布的波峰位置的电容数值与未触摸所述触摸屏时X方向上相同位置的电容数值进行比较，计算出触摸所述触摸屏时X方向上波峰位置的电容数值的增加量；将触摸所述触摸屏时Y方向上电容分布的波峰位置的电容数值与未触摸所述触摸屏时Y方向上相同位置的电容数值进行比较，计算出触摸所述触摸屏时Y方向上波峰位置的电容数值的增加量；

4)判断X和Y方向上波峰位置电容数值的增加量是否均大于一阈值，若是则确定X和Y方向上波峰位置交叠处的正交坐标为触摸位置坐标，若否则返回步骤1)；

进一步的，所述方法中的触摸位置可选是单点触摸或者同时多点触摸。

本发明具有触摸感应灵敏度高，触摸感应位置准确的优点，并且同时适用于单点触摸和多点触摸的检测。

附图说明

图1是本发明的检测方法流程图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本发明作进步阐述，但不限制本发明。

如图1所示，本发明提供了一种触摸屏的触摸位置检测方法，所述触摸屏包括有正交的X和Y方向上两组多条感应线。在没有对触摸屏进行任何触摸操作时，电容感应电路能够实时不断地检测触摸屏X和Y方向上的电容数值分布，并将数值组存储于记忆体中。

当用一个手指触摸所述触摸屏某个位置时，电容感应电路检测触摸屏沿X和Y方向上的电容数值波形分布，获取X和Y方向上电容分布的波峰位置的电容数值Cx₁、Cy₁，以及波峰位置坐标(x₁，y₁)。将Cx₁、Cy₁分别与存储于记忆体中的电容数值分布在相同方向上相同位置的电容数值进行比较，计算出触摸所述触摸屏时X和Y方向上波峰位置的电容数值的增加量。

判断X和Y方向上波峰位置电容数值的增加量是否均大于某一阈值，若是则确定X和Y方向上波峰位置交叠处的正交坐标(x₁，y₁)为触摸位置坐标，若否则返回起始步骤。

以上对本发明的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。