[发明专利]电子射线杀菌装置有效

专利信息
申请号: 201110416127.8 申请日: 2011-12-09
公开(公告)号: CN102526778A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 西纳幸伸;西富久雄;山本幸宏 申请(专利权)人: 涩谷工业株式会社
主分类号: A61L2/08 分类号: A61L2/08;G21K5/00;G21K5/10
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 电子 射线 杀菌 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及电子射线杀菌装置,其对通过运送装置运送的物品照射电子射线而杀菌,本发明特别是涉及用于进行照射电子射线的电子射线照射组件维护的结构。

背景技术

在电子射线杀菌装置中,一般在与外部隔绝的杀菌腔的内部,设置连续地运送物品的物品运送机构,并且电子射线照射组件的照射窗面临形成于杀菌腔中的开口部,将该杀菌腔和电子射线照射组件连接,经由照射窗对通过物品运送机构运送的物品照射来自电子射线照射组件的电子射线,进行杀菌。

在照射电子射线的电子射线照射组件的照射窗上安装钛等的金属箔,必须定期地进行该钛膜等的替换作业等的维护。在进行这样的钛膜的替换作业时,不仅更换钛膜,而且在更换后,使电子射线照射组件的腔内部处于真空状态,实际上照射电子射线而进行调整。

在照射电子射线而进行调整时,为了防止X射线的泄漏,与生产时同样地使电子射线照射组件的照射窗面临无菌腔的开口部,照射电子射线。如果此时在停止物品运送装置的状态下进行电子射线的照射,则连续地对运送装置的一个部位照射电子射线,会产生处于过热状态、引起热变形等的问题,由此,在使运送装置运转的同时,进行电子射线的照射。由于在更换照射窗的钛膜后,在照射电子射线的同时,进行调整的作业通常要求6~7个小时,故无法在此期间进行运送装置的维护等的其它作业,由此,产生效率差的问题。

人们已提出用于因维护时电子射线的照射,防止损害被照射物质量的技术(比如参照日本特开平9-15399号公报)。在该公报中记载的发明中,在照射窗和接受电子射线照射的被照射物之间,设置可装卸的电子射线屏蔽体,电子射线无法直接到达被照射物。另外,在该专利文献1中,还记载有电子射线屏蔽体具有冷却机构,以对应通过照射电子射线而产生的热。

在上述公报中记载的发明中,由于在被照射物通过的运送通路的处理区内部设置电子射线屏蔽体,故必须在维护结束后将其取下。但是,由于在照射电子射线时产生臭氧,故在取下电子射线屏蔽体时,于内部产生的臭氧泄漏到外部,会产生对作业环境产生不利影响的问题。另外,由于在上述处理区的内部设置电子射线屏蔽体,故具有安装和取下的作业性差的问题。此外,在进行电子射线照射组件维护的期间,还具有无法进行被照射物的运送装置维护的问题。

发明内容

于是,本发明的目的在于在进行电子射线照射组件的维护后,在进行调整时,运送装置等不受到因电子射线的照射而过热等的影响,另外,在电子射线照射组件的维护中,可进行运送装置等的维护、其它的作业,使作业效率提高。此外,不具有照射了电子射线的调整箱内的气体泄漏到外部的危险。

本发明是为了实现上述目的而提出的,本发明涉及一种电子射线杀菌装置,其包括具有电子射线的照射窗的电子射线照射组件,该电子射线杀菌装置将电子射线照射到物品上,进行该物品的杀菌,其特征在于,在该电子射线杀菌装置中设置:调整箱,其能在遮盖上述照射窗的状态下,从上述电子射线照射组件上装卸;接受部件,其设置于该调整箱的内部,接受所照射的电子射线;排气机构,其将上述调整箱内部的气体排到外部;冷却机构,其对上述接受部件进行冷却。

在本发明的电子射线杀菌装置中,由于遮盖电子射线照射组件的照射窗而安装调整箱,通过设置于该调整箱的内部的电子射线接受部件,接受已照射的电子射线,故在生产运转时,接受电子射线的照射的运送装置,不受到因电子射线的照射而过热等影响,另外,在电子射线照射组件的维护中,可进行运送装置等的维护和其它的作业,作业效率提高。此外,由于调整箱具有排气机构,故具有下述效果,即没有将照射了电子射线的调整箱内的气体泄漏到外部的危险。

另外,第2项发明涉及上述第1项发明,其特征在于,其包括:运送上述物品的物品运送机构;杀菌腔,其收纳该物品运送机构,该电子射线杀菌装置可切换到杀菌状态与维护状态,在该杀菌状态下,上述电子射线照射组件的照射窗面临形成于该杀菌腔上的开口部而设置;在该维护状态下,电子射线照射组件与杀菌腔断开而安装上述调整箱。

此外,第3项发明涉及上述第1项发明,其特征在于,上述接受部件具有大于上述照射窗的长宽尺寸的尺寸,可接受从照射组件照射的所有电子射线。

还有,第4项发明涉及上述第1项发明,其特征在于,设置测量机构,其在上述接受部件被照射电子射线时,测量流过上述接受部件的电流值;比较机构,其将该测量机构的测量结果与规定值比较;判断机构,其根据该比较机构的比较结果判断电子射线照射量是否正常。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于涩谷工业株式会社,未经涩谷工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110416127.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top