[发明专利]用于分光光度计的测量装置及其测量方法有效
申请号: | 201110418186.9 | 申请日: | 2011-12-14 |
公开(公告)号: | CN103162824A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 赵江静;赵东阳;王悦;王铁军;李维森 | 申请(专利权)人: | 北京普源精电科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/00 | 分类号: | G01J3/00 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 张雪梅 |
地址: | 102206 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 分光 光度计 测量 装置 及其 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及分光光度计的测量技术领域,特别涉及一种用于分光光度计的测量装置及其测量方法。
背景技术
用分光光度计对待测样品进行测量分析时,光度测量和定量测量是常用的两种测量方式。光度测量方式主要对待测样品进行定性分析,即在设定的波长点测量待测样品的吸光度Abs(Absorbance)值、透光率T、样品能量E和反射率等,主要目的是获得待测样品在设定的波长点对光的吸收程度。对待测样品进行光度测量时,可以对同一波长点进行多次测量,然后取其平均值,以使测量值更精确;也可以对同一待测样品设定多个波长点进行测量,然后对测量数据进行简单的数学运算。定量测量方式主要对待测样品进行定量分析,即先测出已知浓度的标准样品的Abs值,并绘制浓度与Abs值的关系曲线,然后在同样的条件下测量待测样品的Abs值,再根据朗伯-比尔定律,与标准样品的浓度曲线比较后获得待测样品的浓度。
图1是现有技术中用分光光度计对多个待测样品进行测量的流程图。如图1所示,先编辑测量方法;接下来将待测样品放到样品池中;然后启动对待测样品的测量;再依次测量各样品池中的待测样品并保存测量数据;当样品池中的待测样品测量完成时,用户人工判断待测样品是否全部测量完毕,如果否,则返回至第二步,用户更换样品池中的待测样品后继续测量;重复上述步骤直到待测样品全部测量完毕,测量结束。
用分光光度计对待测样品进行光度测量或定量测量时,通常需要测量多个样品。当待测样品的个数明显多于样品池能够容纳的样品个数时,如果采用上述现有技术的测量方法,则需要用户反复人工判断待测样品是否全部测量完毕并反复启动测量,测量过程繁琐,测量效率低。
目前,非常需要一种用于分光光度计的方便、快捷、高效的测量装置和测量方法。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于分光光度计的测量装置。
本发明的另一目的是提供一种分光光度计。
本发明的再一目的是提供一种用于分光光度计的测量方法。
本发明提供的用于分光光度计的测量装置包括:
测量方法编辑单元,用于编辑分光光度计的测量方法;
采集方法编辑单元,用于根据待测样品的个数编辑采集方法;
启动器,用于启动对待测样品的测量;
测量单元,用于根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的待测样品并保存测量数据;
控制单元,用于样品池中的样品测量完成后,根据所述采集方法判断待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的待测样品,样品池中待测样品更换完成后使测量单元开始测量。
优选地,所述测量装置进一步包括数据处理器,用于对测量数据进行处理。
优选地,所述数据处理器用于
对测量数据进行均值运算;和
对测量数据进行RSD运算。
优选地,所述数据处理器进一步用于
在所述均值运算的基础上进行所述RSD运算。
优选地,所述测量方法编辑单元用于对测量方式、多次测量的时间间隔、待测波长个数、待测波长、文件名、方法描述和备注中的一个或多个进行编辑。
优选地,所述采集方法编辑单元用于对样品ID、样品池ID、批次、重复测量次数和样品信息中的一个或多个进行编辑。
本发明提供的分光光度计包括所述测量装置。
本发明提供的用于分光光度计的测量方法包括如下步骤:
测量方法编辑步骤,编辑分光光度计的测量方法;
采集方法编辑步骤,根据待测样品的个数编辑采集方法;
启动步骤,启动对待测样品的测量;
测量步骤,根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的待测样品并保存测量数据;
控制步骤,样品池中的样品测量完成后,根据所述采集方法判断待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的待测样品,样品池中待测样品更换完成后返回至测量步骤。
优选地,所述方法进一步包括数据处理步骤,对测量数据进行处理。
优选地,所述数据处理步骤包括:
对测量数据进行均值运算;和
对测量数据进行RSD运算。
优选地,所述数据处理步骤进一步包括:
在所述均值运算的基础上进行所述RSD运算。
优选地,所述测量方法编辑步骤包括对测量方式、多次测量的时间间隔、待测波长个数、待测波长、文件名、方法描述和备注中的一个或多个进行编辑。
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