[发明专利]测量触摸屏上导电膜的方法

权利要求书

1.一种测量触摸屏上导电膜的方法，其特征在于：包括如下步骤：

a）预设不同面电阻值所对应的膜厚度值；

b）利用阵列排列的探针于导电膜上采集n 个电阻值，各电阻值分别为相邻两探针之间的电阻值，形成电阻值集合；

c）摒弃边缘区域之控针的的电阻值；

d）在非边缘区的电阻值中任选至少三个相邻探针的电阻值，计算出该所选之电阻值形成的面电阻值，依该方法重复对前述非边缘区的其它电阻值进行选择计算，获得 m 个面电阻值；

e）比较上述 m 个面电阻值，若各个面电阻值的差值在阙值范围内，则视为导电膜的厚度为均匀，否则为不均匀；

f）将上述 m 个面电阻值进行优化计算，获得面电阻值的平均值并依前述步骤a)的预设找出对应的膜厚度值，完成导电膜厚度的测量。

2.根据权利要求1所述的测量触摸屏上导电膜的方法，其特征在于：于前述步骤d)中，所选择的电阻值为正方形的四个相邻探针的电阻值。