[发明专利]基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法

权利要求书

1.一种基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)用高光谱成像仪对复合绝缘子成像，获取复合绝缘子的高光谱影像；

2)影像预处理：对复合绝缘子的影像进行预处理，包括几何校正、滤波去噪、辐射校正，以获得较为精确的光谱信息；

3)选取训练样本：其步骤包括确定状态数、选取每种状态的样区、取均值，得到每种状态的均值样本；

4)建立复合绝缘子老化模型：首先量化老化程度，接着提取光谱特征，然后建立复合绝缘子老化模型；

5)解算老化模型参数：采用最小二乘法解算老化模型的参数；

6)用老化模型判断复合绝缘子的老化程度：从高光谱影像上提取一串复合绝缘子的全部区域，确定复合绝缘子的像素区域，然后用老化模型逐个判断区域内像素的老化系数，对区域内所有像素的老化程度取均值，即可得到复合绝缘子的老化程度。

2.根据权利要求1所述的基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法，其特征在于，步骤4)中将全新、良好、潜在粉化、粉化、完全老化五种状态复合绝缘子的老化指数分别量化为0，0.2，0.5，0.8，1。

3.根据权利要求2所述的基于高光谱的复合绝缘子老化运行状态检测方法，其特征在于，步骤4)中假设复合绝缘子老化与各波段值的变化呈线性关系，建立的老化模型如下式：

a₀+a₁*(P₁-P₀)+a₂*(P₂-P₀)+...+a_n*(P_n-P₀)＝L

其中：P_{1、2、。。。、n}为某状态复合绝缘子在第n个特征波段处的反射率；

P₀是全新的复合绝缘子在相应波段处的反射率；

a₀、a₁、a₂、...、a_n为复合绝缘子老化模型待求解的系数；

L为某状态复合绝缘子对应老化系数。