[发明专利]一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法有效
申请号: | 201110422947.8 | 申请日: | 2011-12-16 |
公开(公告)号: | CN102565671A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 詹惠琴;商洪亮;杨建军;周建;王寅;古军;罗时雨;康波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G06F9/445 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 温利平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试仪 在线 编程 动态 配置 方法 | ||
1.一种集成电路测试仪在线编程的动态配置方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)、在集成电路测试仪的上位机中,上电后用户可以选择是否重新编写测试程序,如果重新编写测试程序,则上位机将新编写的测试程序进行编译后通过USB接口向下位机下载,下载成功后,等待下位机通过USB接口返回测试结果,如果有返回测试结果,则接收测试结果并保存;如果不需要重新编写测试程序,则直接等待下位机通过USB接口返回测试结果,如果有返回测试结果,则接收测试结果并保存;
(2)、在集成电路测试仪的下位机中,将微处理器的一外部引脚定义为启动闪存选择引脚,用户在测试程序出错的情况下,将启动闪存选择引脚电平设置NorFlash闪存启动对应的电平,否则,设置为NandFlash闪存启动对应的电平;
下位机上电后,微处理器根据启动闪存选择引脚的电平,决定从NorFlash闪还是从NandFlash闪存启动;
如果从NandFlash闪存中启动则代表测试仪目前的状态为运行模式,微处理器将NandFlash闪存中前段的启动程序自动拷贝到它内部的SRAM存储器中,微处理器运行启动程序,把前段的启动程序和后一段的测试程序从NandFlash闪存中拷贝到外接的SDRAM存储器中,然后从SDRAM存储器中取指令开始执行,进行测试任务,然后将测试结果通过USB接口返回上位机;在测试过程中,如果接收到上位机发送的数据,则判断是否为测试程序,如果是,则将该测试程序存入NandFlash闪存中并覆盖之前的测试程序,然后自动重启并根据新的测试程序进行测试;
如果从NorFlash闪存启动,则代表测试仪器目前的状态为下载模式,微处理器直接从NorFlash闪存中读取引导程序和下载程序并执行,初始化USB接口完成后开始等待测试程序下载,下载成功后微处理器将测试程序直接写入到NandFlash闪存中,覆盖之前的测试程序,然后用户再重新设置启动闪存选择引脚的电平,切换回运行模式,并重新启动。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试仪在线编程的动态配置方法,其特征在于,所述的SDRAM存储器分为三个区:A区、B区以及A区、B区之间的区域;
A区为存储在正常运行模式下从NandFlash拷贝过来的启动程序和测试程序;中间部分的大片内存分区,即A区、B区之间的区域为预留给测试仪使用的分区,用以满足变量空间的分配以及中断处理过程栈区的分配;剩下的B区用于存放下载的测试程序;
所述的下载成功后微处理器将测试程序直接写入到NandFlash闪存中,先将测试程序存放到SDRAM存储器的B区进行缓存,然后在写入到NandFlash闪存中。
3.根据权利要求2所述的集成电路测试仪在线编程的动态配置方法,其特征在于,测试程序接收完毕后,即全部存放到SDRAM存储器的B区后进行校验,如果不正确,则返回信息给上位机,让其重新发送,如果正确,则将其从SDRAM的B区写入到NandFlash闪存中;
测试程序写入NandFlash闪存后,需要读出写入的测试程序,检验写入是否正确,如果不正确,则重新写入。
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