[发明专利]图像信号处理装置以及图像信号处理方法有效
申请号: | 201110424621.9 | 申请日: | 2011-12-16 |
公开(公告)号: | CN102572274A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 大渕麻莉;河本启助;斋宽知;野中进一 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;H04N5/367 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 孙蕾 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 信号 处理 装置 以及 方法 | ||
1.一种图像信号处理装置,其特征在于,具备:
摄像单元,包含摄像元件,该摄像元件对来自被摄体的入射光进行光电变换,并作为图像信号进行输出;
缺陷像素检测单元,检测摄像元件的缺陷像素;
缺陷像素补正单元,对用该缺陷像素检测单元检测到的缺陷像素进行补正;
图像信号补正单元,对来自该缺陷像素补正单元的信号针对任意区域的每一个进行图像信号补正;
温度测量单元,测量摄像元件附近的温度;以及
系统控制单元,综合地控制图像信号处理系统,
上述系统控制单元使用从上述温度测量单元得到的温度信息,控制上述缺陷像素检测单元检测缺陷像素时的检测条件、即曝光时间、缺陷像素检测阈值、增益中的任意1个或者多个。
2.根据权利要求1所述的图像信号处理装置,其特征在于:
保持计算上述缺陷像素检测单元检测缺陷像素时的检测条件的函数式,使用上述函数式以及从上述温度测量单元得到的温度信息,计算检测缺陷像素时的上述检测条件,上述缺陷像素检测单元使用该检测条件进行缺陷像素的检测。
3.根据权利要求1所述的图像信号处理装置,其特征在于:
将把上述缺陷像素检测单元检测缺陷像素时的检测条件以及从上述温度测量单元得到的温度信息对应起来的信息作为表进行保持,使用该表的信息和从上述温度测量单元得到的温度信息,计算检测缺陷像素时的上述检测条件,上述缺陷像素检测单元使用该检测条件进行缺陷像素的检测。
4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的图像信号处理装置,其特征在于,具备:
计算上述缺陷像素检测单元检测缺陷像素时检测到的缺陷像素的数量的缺陷像素数量计算单元,
上述系统控制单元根据从上述缺陷像素数量计算单元得到的缺陷像素的数量,改变为了再次进行缺陷像素的检测的上述检测条件以及控制上述缺陷像素检测单元。
5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的图像信号处理装置,其特征在于:
上述系统控制单元判定从上述温度测量单元得到的温度信息是否在允许范围,并根据判定结果计算上述检测条件。
6.根据权利要求1至5中的任意一项所述的图像信号处理装置,其特征在于:
在从对图像信号处理装置供给电源开始到输出图像为止的期间进行由上述缺陷像素检测单元进行的缺陷像素检测。
7.一种图像信号处理方法,是具有摄像元件的图像信号处理装置的图像信号处理方法,该图像信号处理方法的特征在于,具备:
摄像步骤,对来自被摄体的入射光进行光电变换,并作为图像信号进行输出;
缺陷像素检测步骤,检测上述摄像元件的缺陷像素;
缺陷像素补正步骤,对在该缺陷像素检测步骤中检测到的缺陷像素进行补正;
图像信号补正步骤,对来自该缺陷像素补正步骤的信号针对任意的区域的每一个进行图像信号补正;以及
温度测量步骤,测量上述摄像元件附近的温度,
使用从上述温度测量步骤得到的温度信息,控制上述缺陷像素检测步骤检测缺陷像素时的检测条件、即曝光时间、缺陷像素检测阈值、增益中的任意1个或者多个。
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