[发明专利]无隔圈四列圆锥滚子轴承的轴向游隙的合套测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种轴承的轴向游隙的合套测量方法，具体是一种无隔圈四列圆锥滚子轴承的合套测量方法。

背景技术

现有四列圆锥滚子轴承的合套测量方法是对传统的有隔圈的四列圆锥滚子轴承而言的，通常采用修磨内外隔圈宽度来调整轴承的轴向游隙，传统有隔圈的四列圆锥滚子轴承的合套方法零部件多，安装复杂，测量采用计算量块值为基准，人为误差大，计算复杂，对于无隔圈的四列圆锥滚子轴承合套目前国内并无成熟的测量方法。

发明内容

本发明的目的是提供一种无隔圈的四列圆锥滚子轴承合套的测量方法，为轴承合套的加工提供有效的理论依据。

采用的技术方案是：

无隔圈四列圆锥滚子轴承的轴向游隙的合套测量方法，包括下述步骤：

首先设外圈AB及ED端面尺寸公差为a，外圈BC及DC端面尺寸公差设为b，内圈端面尺寸公差设为c，游隙设为A~B；

第一步：

测量C面，支承内圈端面A、E面测量。（见图2）

以内圈端面为基准零位，测量外圈端面低于内圈端面A/2 ~B/2，即-A/2 ~ -B/2。

如果测量的值大于-A/2，在保证装配高的情况下，磨削外圈端面C面至-A/2 ~ -B/2；

如果测量的值小于-B/2，在保证装配高的情况下，磨削内圈端面C面至-A/2 ~ -B/2；

第二步：

测量A面，支承内圈端面C面测量。（见图3）

以内圈端面为基准零位，测量外圈端面低于内圈端面A/2-a-b ~ B/2-a-b，即-(A/2-a-b)~-(B/2-a-b)，

由于外圈AB端面尺寸公差为a，外圈BC端面尺寸公差为b，合套后游隙为a+b-(-(A/2-a-b)~-(B/2-a-b))+(A/2~B/2)=A~Bmm。

如果测量的值大于-(A/2-a-b)磨削外圈滚道，至-(A/2-a-b)~ -(B/2-a-b)；

如果测量的值小于-(B/2-a-b)磨削外圈AB端面B面，此时测量值不变，但游隙发生变化（减小）。

第三步：

测量E面，支承内圈端面C面测量。（见图4）

以内圈端面为基准零位，测量外圈端面低于内圈端面A/2-a-b ~ B/2-a-b，即-(A/2-a-b)~-(B/2-a-b)；

由于外圈ED端面尺寸公差为a，外圈DC端面尺寸公差为b，合套后游隙为a+b-(-(A/2-a-b)~-(B/2-a-b))+(A/2~B/2)=A~Bmm。

如果测量的值大于-(A/2-a-b)磨削外圈滚道，至-(A/2-a-b)~ -(B/2-a-b)；

如果测量的值小于-(B/2-a-b) 磨削外圈ED端面D面，此时测量值不变，但游隙发生变化（减小）。

本发明的优点：

该测量方法：可取消内外三个隔圈，减少轴承零部件，以内圈端面为基准零位，直接测量外圈端面落差，测量方便，合套简明易懂，计算简单。

附图说明

图1为无隔圈四列圆锥滚子轴承装配示意图。

图2为支承内圈端面A面，测量外圈C面示意图。

图3为支承内圈端面E面，测量外圈C面示意图。

图4为支承内圈端面C面，测量外圈A面示意图。

图5为支承内圈端面C面，测量外圈E面示意图。

具体实施方式：

无隔圈四列圆锥滚子轴承的轴向游隙的合套测量方法，包括下述步骤：

第一步：设外圈AB及ED端面尺寸公差为a，外圈BC及DC端面尺寸公差设为b，内圈端面尺寸公差设为c，游隙设为A ~ B。

第二步：

首先进行支承内圈端面C面、支承内圈端面A面和支承内圈端面E面的测量；

以内圈端面为基准零位，测量外圈端面低于内圈端面A/2 ~B/2，即-A/2 ~ -B/2。

如果测量的值大于-A/2，在保证装配高的情况下，磨削外圈端面C面至-A/2 ~ -B/2；

如果测量的值小于-B/2，在保证装配高的情况下，磨削内圈端面C面至-A/2 ~ -B/2；

第三步：

测量外圈A面、支承内圈端面C面：

以内圈端面为基准零位，测量外圈端面低于内圈端面A/2-a-b ~ B/2-a-b，即-(A/2-a-b)~-(B/2-a-b)，