[发明专利]一种液晶显示装置的检测开关

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示装置技术领域，尤其涉及一种液晶显示装置的检测开关。

背景技术

液晶显示装置具有由包括矩阵状的显示像素构成的有效显示部分。该有效显示部分包括沿显示像素的行方向延伸的多条扫描线、沿显示像素的列方向延伸的多条数据线、设置在这些扫描线与数据线的交叉部位附近的开关元件以及与所述开关元件连接的像素电极等。这些扫描线及数据线引出到有效显示部分的外围部分，通过在所述外围部分输入测试信号来检测有效显示部分所显示出来画面的品质。

现有技术中可以在所述外围部分设置Shorting bar(短路棒)，如图1所示，短路棒1与扫描线引出线2直接相连，然后通过相应的触点3与有效显示部分的扫描线(图中未示出)相连；短路棒41、42、43均直接与相应的数据线引出线相连，进而连接到有效显示部分相应控制红色(R)、绿色(G)、蓝色(B)像素单元的数据线上。另一种技术为：参考图2，在图1结构的基础上，在各扫描线引出线和各数据线引出线上均设置检测开关100(Switch结构)，各检测开关100由相应的控制线101来控制其呈导通或截止状态。这些检测开关100通过相应的触点103与有效显示部分的扫描线或数据线相连。

针对外围部分仅设置有短路棒的情况，在进行完测试后，需要切断短路棒与各引出线之间的连接，而对于设置有检测开关的情况，进行完测试后，则无需切断短路棒与各引出线之间的连接。因此，在对驱动能力要求不高的小尺寸液晶显示装置中，多在外围部分设置检测开关。

如图2所示，一般的检测开关100被设置在驱动IC下方，即：从图2的俯视图上看，检测开关100上方有IC输入引脚102，检测开关100下方有IC输出引脚103(即相应连接扫描线和数据线的触点)。

随着市场的需求，驱动IC越来越小，从而使得IC下方设置检测开关的空间越来越小，因此，检测开关被设置的越来越密集，进而使得各扫描线引出线和各数据线引出线偏移的空间越来越小，当工艺发生波动时，各扫描线引出线之间以及各数据线引出线之间很容易发生短路，产生线缺陷。而且，由于检测开关比较密集，因此，在干法刻蚀工艺中，其与有效显示部分的TFT沟道刻蚀速率不同，容易导致检测开关处的TFT沟道残留，进而造成线缺陷、显示异常、显示不良等问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种液晶显示装置的检测开关，以解决现有的检测开关过于密集的问题，从而减少线缺陷、显示不良等现象的发生。

为解决上述问题，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种液晶显示装置的检测开关，所述液晶显示装置包括多条彼此交叉的扫描线和数据线；该液晶显示装置的检测开关设置在所述扫描线和/或数据线的一端，其中，每一检测开关均与相应的控制线和传输线相连。

优选的，所述扫描线分为奇数行和偶数行，奇数行扫描线的始端对应偶数行扫描线的末端，奇数行扫描线的末端对应偶数行扫描线的始端，在所述扫描线的末端设置有扫描线检测开关，所述扫描线检测开关与相应的扫描线控制线和扫描线传输线相连。

优选的，所述任意两条数据线的始端和末端均一一相互对应，在所述数据线的末端设置有数据线检测开关，所述数据线检测开关与相应的数据线控制线和数据线传输线相连。

优选的，所述液晶显示装置中每一扫描线始端均连接一个扫描线ESD电路，每一扫描线ESD电路均与扫描线ESD独立引线相连。

优选的，所述扫描线ESD独立引线与扫描线控制线为同一条引线。

优选的，所述扫描线ESD独立引线、扫描线控制线和扫描线传输线均为竖直线条。

优选的，所述液晶显示装置中每一数据线的始端和末端均连接一个数据线ESD电路，每一数据线ESD电路均与数据线ESD独立引线相连；且对应数据线始端的多个数据线ESD电路连接同一数据线ESD独立引线，对应数据线末端的多个数据线ESD电路连接另一数据线ESD独立引线。

优选的，对应数据线末端的数据线ESD独立引线与数据线控制线为同一条引线。

优选的，所述数据线ESD独立引线、数据线控制线和数据线传输线均为水平线条。

从上述技术方案可以看出，本发明实施例所提供的液晶显示装置包括多条彼此交叉的扫描线和数据线，且该液晶显示装置的检测开关设置在所述扫描线和/或数据线的一端，这就是使得所述检测开关随着扫描线和/或数据线的排布而分散地设置在液晶显示装置的外围部分(即显示区外)，从而可解决现有工艺中因检测开关分布密集而容易产生线缺陷、显示不良等的问题。

附图说明