[发明专利]一种三相整流桥的老化方法及装置有效

专利信息
申请号: 201110432792.6 申请日: 2011-12-21
公开(公告)号: CN102540044A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 曾令军;许晓鹏;孙汉炳;胡靓 申请(专利权)人: 中国振华集团永光电子有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 刘楠
地址: 550018 贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 三相 整流 老化 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种三相整流桥的老化方法及装置,属于半导体老化设备技术领域。

背景技术

随着市场竞争越来越激烈,客户对产品的质量等级要求也越来越高,一个产品可靠性高低直接影响其能否在市场上立足。未经老化筛选的半导体器件的可靠性得不到保障,极易出现早期失效或经不起较大负荷的冲击,容易造成电路故障,给客户造成无法弥补的损失。针对这一情况,设备生产厂商开发设计了很多半导体器件老化筛选设备,这些老化筛选设备唯独没有整流桥老化筛选设备。目前,筛选三相整流桥的性能主要是通过简单测量手段进行的,一方面无法进行批量老化筛选;另外也无法完全模拟三相整流桥的正常工作状态。无法满足客户对产品的质量等级要求也越来越高的要求,无法保证产品可靠性,未经老化的三相整流桥会造成早期失效或经不起较大负荷的冲击,容易造成电路故障。

发明内容

本发明的目的在于,提供一种三相整流桥的老化方法及装置。可以对三相整流桥内部管子进行动态老化,并可进行批量筛选,避免三相整流桥早期失效或经不起较大负荷的冲击,出现电路故障。以满足客户对产品的质量等级要求也越来越高的要求,保证产品可靠性。

本发明的技术方案:

一种三相整流桥的老化方法,该方法利用老化装置对整流桥进行批量老化;将一个或一个以上待试验的整流桥夹持在装置不同老化区的夹具上,将装置上高压输出控制单元和电流控制单元的接线端子与待试验的整流桥连接;并将测温元件固定在老化区的散热片上,测温元件与温度显示控制单元连接,温度显示控制单元与冷却风机组连接;电流控制单元和高压输出控制单元分别与试验参数显示单元连接;电流控制单元分别与低压交流电源调整单元和同步触发控制单元连接。

前述方法中,所述低压交流电源调整单元由两台大功率变压器提供,两台变压器输出电压相位相反;电流控制单元由两个交替工作的可控硅为待试验的整流桥提供工作电流。

前述方法中,所述电流控制单元中的两个交替工作的可控硅与同步触发控制单元连接,通过同步触发控制单元控制通过待试验整流桥的工作电流。

根据上述方法构建的三相整流桥的老化装置为工作台式结构,在工作平台上设有一个以上的用于固定待试验整流桥的老化区;工作平台前方设有配电箱,配电箱内设有高压输出控制单元、电流控制单元、温度显示控制单元、高压输出控制单元和同步触发控制单元;工作平台下方设有变压器箱,变压器箱内设有低压交流电源调整单元;配电箱的正面设有调控面板,调控面板上部设有电源面板;变压器箱正面设有电源调节面板。

前述装置中,所述电源面板上设有电源正极输入端子和电源负极输入端子以及一组电压表和一组电流表。

前述装置中,所述调控面板上设有电流微调旋钮、温控器和模块指示仪表。

前述装置中,所述电源调节面板上设有电压调节旋钮和电流调节旋钮。

前述装置中,所述老化区包括二极管老化工作台和整流桥老化工作台,老化区设有接线端子;整流桥老化工作台包括散热片,散热片上设有安装老化夹具的螺纹孔和安装测温装置的检测孔,散热片下方设有冷却风机。

前述装置中,所述测温装置为热电偶或热敏电阻。

前述装置中,所述配电箱和变压器箱的侧板以及配电箱顶板上均布有冷却风机;变压器箱的底部设有万向轮。

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