[发明专利]一种具有驻波测量功能的频谱分析仪及其驻波测量方法有效
申请号: | 201110433205.5 | 申请日: | 2011-12-21 |
公开(公告)号: | CN103176044A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 黄庆忠;王悦;王铁军;李维森 | 申请(专利权)人: | 北京普源精电科技有限公司 |
主分类号: | G01R23/16 | 分类号: | G01R23/16;G01R27/06 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 102206 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 驻波 测量 功能 频谱 分析 及其 测量方法 | ||
1.一种具有驻波测量功能的频谱分析仪,其具有显示器、键盘、输入电路及输出电路,所述输入电路及输出电路连接外部设备以进行驻波测量;所述键盘用于输入用户指令;
其特征在于,还包括:
全反射曲线生成模块,用于根据用户输入的全反射指令,生成全反射测量轨迹曲线并传送至所述显示器进行显示;
常反射曲线生成模块,用于根据用户输入的常反射指令,生成常反射测量轨迹曲线并传送至所述显示器进行显示;
驻波测量曲线生成模块,用于将所述全反射测量轨迹曲线与常反射测量轨迹曲线进行差值运算,生成所述驻波测量轨迹曲线并传送至所述显示器进行显示;
计算模块,用于根据存储在内存中的全反射测量轨迹曲线对应的全反射数据,以及常反射测量轨迹曲线对应的常反射数据,计算生成指定频率的驻波测量数据,并将所述驻波测量数据显示在所述显示器中。
2.根据权利要求1所述的具有驻波测量功能的频谱分析仪,其特征在于,所述频谱分析仪还包括光标产生模块,用于根据用户指令产生光标,所述计算模块对所述光标处的指定频率的驻波测量数据进行计算。
3.根据权利要求1所述的具有驻波测量功能的频谱分析仪,其特征在于,所述驻波测量数据包括反射系数和驻波比。
4.根据权利要求3所述的具有驻波测量功能的频谱分析仪,其特征在于,所述计算模块包括:
反射系数计算模块,用于计算反射系数,其中所述反射系数k=10-0.05*a,a是所述驻波测量曲线上的指定频率所在点的幅度值;
驻波比计算模块,用于计算驻波比,其中所述驻波比k为所述反射系数。
5.根据权利要求1所述的具有驻波测量功能的频谱分析仪,其特征在于,所述频谱分析仪还包括操作引导模块,用于在进行驻波测量时,根据用户指令生成引导信息,并将所述引导信息显示在所述显示器中,指引用户的操作。
6.根据权利要求5所述的具有驻波测量功能的频谱分析仪,其特征在于,所述显示器具有三个显示区域:测量曲线显示区域、引导信息显示区域以及测量结果显示区域;
所述测量曲线显示区域用于显示所述生成的全反射曲线、常反射曲线以及驻波测量曲线;
所述引导信息显示区域用于显示指引用户操作的引导信息;
所述测量结果显示区域用于显示生成的驻波测量数据。
7.根据权利要求1所述的具有驻波测量功能的频谱分析仪,其特征在于,所述全反射曲线生成模块、常反射曲线生成模块、驻波测量曲线生成模块以及计算模块由一个DSP芯片构成。
8.根据权利要求1所述的具有驻波测量功能的频谱分析仪,其特征在于,在进行全反射测量时,所述输入电路及输出电路连接的外部设备为电桥。
9.根据权利要求8所述的具有驻波测量功能的频谱分析仪,其特征在于,在进行常反射测量时,所述外部设备还包括被测设备,所述被测设备为滤波器、放大器、电缆或天线。
10.一种利用如权利要求1~9所示的频谱分析仪进行驻波测量的方法,其特征在于,所述方法包括:
根据用户输入的全反射指令,生成全反射测量轨迹曲线并传送至所述显示器进行显示;
根据用户输入的常反射指令,生成常反射测量轨迹曲线并传送至所述显示器进行显示;
将所述全反射测量轨迹曲线与常反射测量轨迹曲线进行差值运算,生成所述驻波测量轨迹曲线并传送至所述显示器进行显示;
根据存储在内存中的全反射测量轨迹曲线对应的全反射数据,以及常反射测量轨迹曲线对应的常反射数据,计算生成指定频率的驻波测量数据,并将所述驻波测量数据显示在所述显示器中。
11.根据权利要求10所述的进行驻波测量的方法,其特征在于,在进行驻波测量时,还包括根据用户指令生成引导信息,并将所述引导信息显示在所述显示器中,指引用户的操作。
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