[发明专利]压力传感器及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201110433740.0 申请日: 2011-12-21
公开(公告)号: CN102515090A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 毛剑宏;唐德明 申请(专利权)人: 上海丽恒光微电子科技有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;G01L9/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 上海市浦东新区张江*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 压力传感器 及其 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种形成压力传感器的方法,其特征在于,包括:

提供半导体基底,在所述半导体基底内具有控制电路和互连结构,在所述半导体基底上形成有底部电极,所述互连结构将所述底部电极和控制电路电连接;

形成牺牲层,覆盖所述底部电极;

形成顶部电极,覆盖所述牺牲层的顶面、侧面以及部分所述半导体基底,所述顶部电极具有第一开口,所述第一开口暴露出所述牺牲层;

通过所述第一开口去除所述牺牲层,在所述顶部电极和底部电极之间形成空腔;

形成介质层,覆盖所述半导体基底和顶部电极,所述介质层具有呈环状的第二开口,所述第二开口隔离出与所述底部电极相对的部分顶部电极,该隔离出的部分顶部电极作为压力传感区。

2.如权利要求1所述的形成压力传感器的方法,其特征在于,所述半导体基底内还具有另一互连结构,与所述顶部电极电连接;

或者,在所述介质层中形成另一互连结构,在所述顶部电极覆盖半导体基底的部分与所述顶部电极电连接。

3.如权利要求1所述的形成压力传感器的方法,其特征在于,所述牺牲层的材料为非晶碳;

形成所述牺牲层的方法为化学气相沉积;

去除所述牺牲层的方法为:

等离化氧气形成氧等离子体;

将所述氧等离子体通入所述第一开口,在温度范围为150℃~450℃的条件下灰化所述非晶碳。

4.如权利要求1所述的形成压力传感器的方法,其特征在于,所述控制电路为CMOS电路。

5.一种压力传感器,其特征在于,包括:

半导体基底,在所述半导体基底内具有控制电路和互连结构,在所述半导体基底上形成有底部电极,所述互连结构将所述底部电极和控制电路电连接;

顶部电极,包括顶壁、底壁和侧壁,所述顶壁与所述底部电极相对设置,所述底壁位于所述半导体基底上,所述侧壁连接底壁和顶壁,所述顶部电极和底部电极之间为空腔;

介质层,覆盖所述半导体基底和顶部电极,所述介质层具有呈环状的第二开口,所述第二开口隔离出所述顶部电极的部分顶壁,该隔离出的部分顶壁作为压力传感区。

6.如权利要求5所述的压力传感器,其特征在于,所述半导体基底内还具有另一互连结构,与所述顶部电极电连接;

或者,在所述介质层中形成有另一互连结构,在所述顶部电极覆盖半导体基底的部分与所述顶部电极电连接。

7.如权利要求5所述的压力传感器,其特征在于,所述控制电路为CMOS电路。

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