[发明专利]压力传感器及其形成方法有效
申请号: | 201110433740.0 | 申请日: | 2011-12-21 |
公开(公告)号: | CN102515090A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 毛剑宏;唐德明 | 申请(专利权)人: | 上海丽恒光微电子科技有限公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00;G01L9/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 压力传感器 及其 形成 方法 | ||
1.一种形成压力传感器的方法,其特征在于,包括:
提供半导体基底,在所述半导体基底内具有控制电路和互连结构,在所述半导体基底上形成有底部电极,所述互连结构将所述底部电极和控制电路电连接;
形成牺牲层,覆盖所述底部电极;
形成顶部电极,覆盖所述牺牲层的顶面、侧面以及部分所述半导体基底,所述顶部电极具有第一开口,所述第一开口暴露出所述牺牲层;
通过所述第一开口去除所述牺牲层,在所述顶部电极和底部电极之间形成空腔;
形成介质层,覆盖所述半导体基底和顶部电极,所述介质层具有呈环状的第二开口,所述第二开口隔离出与所述底部电极相对的部分顶部电极,该隔离出的部分顶部电极作为压力传感区。
2.如权利要求1所述的形成压力传感器的方法,其特征在于,所述半导体基底内还具有另一互连结构,与所述顶部电极电连接;
或者,在所述介质层中形成另一互连结构,在所述顶部电极覆盖半导体基底的部分与所述顶部电极电连接。
3.如权利要求1所述的形成压力传感器的方法,其特征在于,所述牺牲层的材料为非晶碳;
形成所述牺牲层的方法为化学气相沉积;
去除所述牺牲层的方法为:
等离化氧气形成氧等离子体;
将所述氧等离子体通入所述第一开口,在温度范围为150℃~450℃的条件下灰化所述非晶碳。
4.如权利要求1所述的形成压力传感器的方法,其特征在于,所述控制电路为CMOS电路。
5.一种压力传感器,其特征在于,包括:
半导体基底,在所述半导体基底内具有控制电路和互连结构,在所述半导体基底上形成有底部电极,所述互连结构将所述底部电极和控制电路电连接;
顶部电极,包括顶壁、底壁和侧壁,所述顶壁与所述底部电极相对设置,所述底壁位于所述半导体基底上,所述侧壁连接底壁和顶壁,所述顶部电极和底部电极之间为空腔;
介质层,覆盖所述半导体基底和顶部电极,所述介质层具有呈环状的第二开口,所述第二开口隔离出所述顶部电极的部分顶壁,该隔离出的部分顶壁作为压力传感区。
6.如权利要求5所述的压力传感器,其特征在于,所述半导体基底内还具有另一互连结构,与所述顶部电极电连接;
或者,在所述介质层中形成有另一互连结构,在所述顶部电极覆盖半导体基底的部分与所述顶部电极电连接。
7.如权利要求5所述的压力传感器,其特征在于,所述控制电路为CMOS电路。
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