[发明专利]一种测量装置和测量方法

权利要求书

1.一种测量装置，其特征在于，该装置包括：

编辑器，用于编辑采集方法； 

发送器，用于发送所述编辑后的采集方法；

启动器，用于发送采集命令；

采集器，用于响应所述采集命令，根据所述采集方法进行数据采集。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，该装置进一步包括：

存储器，用于存储所述编辑后的采集方法。

3.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，该装置进一步包括：

校准器，用于对所述测量装置进行校准。

4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述校准器包括：

基线矫正器，用于对所述测量装置进行基线校正；或

调零器，用于对所述测量装置进行调零。

5.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，该装置进一步包括：

自检器，用于对所述测量装置进行自检。

6.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，该装置进一步包括：

数据处理器，用于对所采集到的数据进行处理；

报告编辑器，用于根据所采集到的数据进行测量报告编辑。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，该装置进一步包括：

多线程处理器，用于在所述采集器工作的过程中，使所述编辑器，和/或数据处理器，和/或报告编辑器进行工作。

8.一种分光光度计，其特征在于，该分光光度计包括如权利要求1～7中的任意一个所述的测量装置。

9.一种测量方法，其特征在于，该方法包括：

编辑步骤，编辑采集方法；

发送步骤，发送所述编辑后的采集方法；

启动步骤，发送采集命令；

采集步骤，响应所述采集命令，根据所述采集方法进行数据采集。

10.根据权利要求9所述的测量方法，其特征在于，该方法进一步包括存储步骤，存储所述编辑后的采集方法。

11.根据权利要求9或10所述的测量方法，其特征在于，该方法在所述启动步骤之前进一步包括校准步骤，对所述测量装置进行校准。

12.根据权利要求11所述的测量方法，其特征在于，所述校准步骤包括：

对所述测量装置进行基线校正；或

对所述测量装置进行调零。

13.根据权利要求9或10所述的测量方法，其特征在于，该方法在所述启动步骤之前进一步包括自检步骤，对所述测量装置进行自检。

14.根据权利要求9或10所述的测量方法，其特征在于，该方法进一步包括：

数据处理步骤，对所采集到的数据进行处理； 报告编辑步骤，根据所采集到的数据进行测量报告编辑。

15.根据权利要求14所述的测量方法，其特征在于，该方法采用多线程方式，在所述采集步骤的过程中，能够执行所述编辑步骤，和/或数据处理步骤，和/或报告编辑步骤。