[发明专利]记录再生装置、记录再生方法和信息记录媒体有效
申请号: | 201110437677.8 | 申请日: | 2008-12-05 |
公开(公告)号: | CN102411939A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 盐野照弘;小林良治;三原尚士 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/0045 | 分类号: | G11B7/0045;G11B7/005;G11B7/1263;G11B7/1267;G11B7/24;G11B7/243 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 再生 装置 方法 信息 媒体 | ||
本申请是申请人松下电器产业株式会社于2008年12月05日提出的申请号为200880118980.8(国际申请号PCT/JP2008/003615)的、发明名称为“记录再生装置、记录再生方法和信息记录媒体”的国际申请的分案申请,该申请进入国家阶段的日期为2010年06月03日。
技术领域
本发明涉及用于对信息进行光学性的记录、再生的光学信息记录再生装置,记录再生方法和信息记录媒体。
背景技术
作为光学性的信息记录再生装置,将CD(Compact Disc)盘、DVD、BD(Blu-Ray)等光盘和光卡等用于信息记录媒体的光存储系统得到实用化。
为了实现记录信息量的大容量化,有前景的是具有多个记录层的多层信息记录媒体。然而,若增加记录层的层数,则随着记录层变为下层(距物镜近的记录层为上层,距物镜远的记录层为下层),记录光通过的记录层的数量越多,记录光量越衰减,因此存在不能良好地进行记录,或者无法增加记录层的层数这样的课题。
为了解决这一课题,提出有一种多层的光记录媒体及其所用的记录再生装置,其记录层由会发生吸收端偏移现象的可变吸收膜和与可变吸收膜邻接的透明的记录膜构成,吸收端偏移现象即吸收光谱的吸收端随着温度的上升而向长波长侧移动的现象(参照专利文献1)。
对于多个记录层之中的目标层的记录层,记录光针对该层处于聚光状态,因此可变吸收膜的温度上升,对记录光的吸收率变大而发热,该热量传递至透明记录膜而能够进行高灵敏度的记录。但是,对于目标层以外的记录层而言,记录光处于散焦状态,因此可变吸收膜的温度几乎不会上升,其结果是记录层的透射率的降低受到抑制,即使是在最下层的记录层,也能够确保可记录的记录能量,即使层数为5~10层左右的多层的信息记录媒体也能够进行良好的记录。
专利文献1:国际公开第03/102941号手册
但是,本申请发明者们的详细的研究的结果发现,在专利文献1所述的记录再生装置中,应用吸收端偏移现象在信息记录媒体上进行记录时,若光源部的温度变化而记录光的波长变动,则含有可变吸收膜的信息记录媒体的记录灵敏度相应地发生变化。另外同时还发现,该信息记录媒体其本身的温度发生变化,可变吸收膜的温度也同样变化,记录灵敏度变化。
发明内容
本发明为了解决上述课题而做,以实现利用吸收端偏移现象的对信息记录媒体的稳定记录和再生。
本发明的装置具有:出射激光的光源;将所述激光会聚到信息记录媒体上的透镜;检测来自所述信息记录媒体的反射光的光检测器,其中,所述信息记录媒体的记录层含有如下材料,其随着温度的上升,由电子的带间跃迁造成的光吸收谱的吸收端向长波长移动,从而对所述激光的吸收率增加,所述装置还具有:检测所述激光的波长和波长变动的至少一方的波长检测部;检测所述信息记录媒体或其周围的温度和温度变化的至少一方的温度检测部;基于所述波长检测部和所述温度检测部各自的输出来控制所述光源的功率的控制部。
在有的实施方式中,在记录之际,将从基准状态起所述激光的波长变动量设为Δλ,所述信息记录媒体或其周围从所述基准状态起的温度变化量设为ΔT,各自的比例系数设为k1、k2,所述基准状态时的所述光源的功率设为p0的情况下,所述控制部按照所述光源的功率P满足0.9P0(k1Δλ)/(k2ΔT)≤P≤1.1P0(k1Δλ)/(k2ΔT)的方式进行控制。
在有的实施方式中,在再生之际,将从基准状态起所述激光的波长变动量设为Δλ,所述信息记录媒体或其周围的从所述基准状态起的温度变化量设为ΔT,各自的比例系数设为k1、k2,所述基准状态时的所述光源的功率设为P0的情况下,所述控制部在所述信息记录媒体是L to H的特性时,按照所述光源的功率P满足0.9P0(k1Δλ)/(k2ΔT)≤P≤1.1P0(k1Δλ)/(k2ΔT)的方式进行控制,所述控制部在所述信息记录媒体是H to L的特性时,按照所述光源的功率P满足0.9P0(k2ΔT)/(k1Δλ)≤P≤1.1P0(k2ΔT)/(k1Δλ)的方式进行控制。
在有的实施方式中,所述比例系数k1和k2满足k1=1.08,k2=0.054。
在有的实施方式中,所述波长检测部具有对所述激光进行衍射的波长检测用的衍射光学元件、和至少具有两个分开的区域的波长检测用的光检测器。
在有的实施方式中,装置还具有聚焦/跟踪误差信号检测用的光学元件,所述衍射光学元件与所述聚焦/跟踪误差信号检测用的光学元件被形成在相同的基板上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110437677.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。