[发明专利]一种TiAlSiN-DLC复合薄膜及其制备方法无效
申请号: | 201110439124.6 | 申请日: | 2011-12-23 |
公开(公告)号: | CN102517543A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 王彦峰;李争显;王宝云;杜继红;华云峰;姬寿长 | 申请(专利权)人: | 西北有色金属研究院 |
主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/34 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人: | 谭文琰 |
地址: | 710016*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tialsin dlc 复合 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种TiAlSiN-DLC复合薄膜,其特征在于,包括附着于金属基体(1)表面的TiAlSiN层(2),附着于TiAlSiN层(2)上的C掺杂的TiAlSiN层(3),和附着于C掺杂的TiAlSiN层(3)上的DLC层(4);所述TiAlSiN层(2)的厚度为0.8μm~2μm,所述C掺杂的TiAlSiN层(3)的厚度为0.3μm~1μm,所述DLC层(4)的厚度为1μm~2.5μm。
2.一种制备如权利要求1所述TiAlSiN-DLC复合薄膜的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤一、金属基体表面的活化:将金属基体置于安装有等离子体增强源的磁控溅射设备的真空室内,采用Ti溅射靶源对金属基体表面进行活化;所述Ti溅射靶源的溅射功率为1kW~10kW;
步骤二、TiAlSiN层的制备:利用氩气将真空室的真空度调节至1×10-1Pa~1Pa,调节负偏压为100V~300V并开启等离子体增强源,维持Ti溅射靶源的溅射功率不变,沉积5min~10min后向真空室内通入体积流量为8sccm~20sccm的氮气,沉积8min~15min,然后依次开启Al溅射靶源和Si溅射靶源,接着将氮气体积流量增加至80sccm~120sccm并维持真空室的真空度为1×10-1Pa~1Pa,沉积30min~100min后得到TiAlSiN层;所述Al溅射靶源的溅射功率为3kW~15kW,所述Si溅射靶源的溅射功率为3kW~15kW;
步骤三、C掺杂的TiAlSiN层的制备:维持Ti溅射靶源、Al溅射靶源和Si溅射靶源的溅射功率均不变,并维持氮气流量不变,开启C溅射靶源并将C溅射靶源的溅射功率调整至5kW~15kW,沉积5min~20min后得到C掺杂的TiAlSiN层;
步骤四、DLC层的制备:依次关闭Ti溅射靶源、Al溅射靶源、Si溅射靶源和氮气,维持C溅射靶源的溅射功率不变,并维持真空室内的真空度为1×10-1Pa~1Pa,负偏压为100V~300V,沉积30min~120min后得到TiAlSiN-DLC复合薄膜。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤一中所述金属基体表面活化的方法为:当真空室的真空度达到本底真空度,温度达到200℃~300℃后向真空室内通入氩气调节真空室的真空度为1×10-1Pa~1Pa,然后在负偏压为800V~1200V的条件下开启Ti溅射靶源并调节溅射功率至1kW~10kW,对金属基体表面活化15min~30min;所述本底真空度为3.0×10-3Pa。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤二中所述Al溅射靶源和Si溅射靶源的开启方式为:先开启Al溅射靶源并在1min~3min时间内将Al溅射靶源的溅射功率增加至3kW~15kW,然后开启Si溅射靶源并在1min~3min时间内将Si溅射靶源的溅射功率增加至3kW~15kW。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤三中所述C溅射靶源的溅射功率的调整方式为:开启C溅射靶源,在1min~3min时间内将C溅射靶源的溅射功率增加至5kW~15kW。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,该方法还包括在金属基体表面活化之前对金属基体进行预处理,具体方法为:将金属基体用金属清洗剂清洗除油,然后将除油后的金属基体依次用400#金相砂纸、600#金相砂纸、1000#金相砂纸和1500#金相砂纸进行打磨和抛光,接着用丙酮和酒精依次进行超声波清洗,最后将经超声波清洗后的金属基体烘干。
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