[发明专利]一种自校准高精度微波测量夹具及校准方法

权利要求书

1.一种自校准高精度微波测量夹具，有一个基座单元，其特征在于：所述基座单元上安装有连接单元、固定单元、测量单元、压紧单元；所述的连接单元和测量单元可以在基座单元上移动；

所述的基座单元上有一个安装座；所述的安装座中部有一矩形凹槽，所述的矩形凹槽内部水平设置有两条滑轨，在所述的安装座的左部设置有左凸台，在所述的安装座的右部设置有夹紧螺纹孔；

所述的固定单元包括固定座、同轴连接器，所述的固定单元固定于所述的基座单元的安装座的左凸台上，所述的同轴连接器安装在所述固定座中部，所述的同轴连接器一端延伸出所述固定座的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述固定座的内表面；

所述的测量单元包括测量单元座、微带电路板、载片以及锁孔；所述的测量单元座中部设置有凹槽，两个所述的载片分别固定于所述的凹槽的两侧，所述的微带电路板设置于所述的两个载片的之间位置；所述的微带电路板包括微带线和介质板；所述的测量单元安装于所述基座单元的两条滑轨上；

所述的连接单元包括连接单元座、同轴连接器、丝杆、旋转手柄；所述的同轴连接器安装在所述连接单元座中部，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接单元座的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接单元座的内表面；所述的连接单元安装于所述基座单元的两条滑轨上，所述丝杆与所述安装座上的夹紧螺纹孔螺纹连接，所述丝杆的一端与连接单元座铰接，所述丝杆的另一端安装所述旋转手柄；

所述的压紧单元包括压紧单元座、均衡压杆、锁舌和锁固机构。

2.根据权利要求1所述的测量夹具，其特征在于：所述的基座单元的左凸台的内侧面设置有定位锥，所述的测量单元座上设置有定位孔，所述的定位锥和所述的定位孔呈对应设置。

3.根据权利要求1或2所述的测量夹具，其特征在于：在所述的固定单元座的内侧设置有压针座和压针，所述的压针安装于压针座上，所述的压针的端头与所述固定单元的同轴连接器的芯头良好接触；在所述的连接单元座的内侧设置有压针和压针座，所述的压针安装于压针座上，所述的压针的端头与所述的连接单元的同轴连接器的芯头良好接触。

4.根据权利要求3所述的测量夹具，其特征在于：所述的测量夹具还包括缓冲机构。

5.一种自校准的高精度微波元件测量系统，包括网络分析仪、电源，其特征在于：所述的测量系统还包括自校准高精度微波测量夹具以及两个供电电路，所述的自校准高精度微波测量夹具的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，供电电路的另一端与网络分析仪连接，电源与供电电路连接；

所述的自校准高精度微波测量夹具有一个基座单元，所述基座单元上安装有连接单元、固定单元、测量单元、压紧单元；所述的连接单元和测量单元可以在基座单元上移动；所述的基座单元上有一个安装座；所述的安装座中部有一矩形凹槽，所述的矩形凹槽内部水平设置有两条滑轨，在所述的安装座的左部设置有左凸台，在所述的安装座的右部设置有夹紧螺纹孔；所述的固定单元包括固定座、同轴连接器，所述的固定单元固定于所述的基座单元的安装座的左凸台上，所述的同轴连接器安装在所述固定座中部，所述的同轴连接器一端延伸出所述固定座的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述固定座的内表面；所述的测量单元包括测量单元座、微带电路板、载片以及锁孔；所述的测量单元座中部设置有凹槽，两个所述的载片分别固定于所述的凹槽的两侧，所述的微带电路板设置于所述的两个载片的之间位置；所述的微带电路板包括微带线和介质板；所述的测量单元安装于所述基座单元的两条滑轨上；所述的连接单元包括连接单元座、同轴连接器、丝杆、旋转手柄；所述的同轴连接器安装在所述连接单元座中部，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接单元座的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接单元座的内表面；所述的连接单元安装于所述基座单元的两条滑轨上，所述丝杆与所述安装座上的夹紧螺纹孔螺纹连接，所述丝杆的一端与连接单元座铰接，所述丝杆的另一端安装所述旋转手柄；所述的压紧单元包括压紧单元座、均衡压杆、锁舌和锁固机构。

6.一种自校准高精度微波测量夹具的校准方法，所述的自校准高精度微波测量夹具连接于测量系统中，所述的测量系统包括网络分析仪、电源，其特征在于：所述的测量系统还包括自校准高精度微波测量夹具以及两个供电电路，所述的自校准高精度微波测量夹具的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，供电电路的另一端与网络分析仪连接，电源与供电电路连接；

所述的自校准高精度微波测量夹具有一个基座单元，所述基座单元上安装有连接单元、固定单元、测量单元、压紧单元；所述的连接单元和测量单元可以在基座单元上移动；所述的基座单元上有一个安装座；所述的安装座中部有一矩形凹槽，所述的矩形凹槽内部水平设置有两条滑轨，在所述的安装座的左部设置有左凸台，在所述的安装座的右部设置有夹紧螺纹孔；所述的固定单元包括固定座、同轴连接器，所述的固定单元固定于所述的基座单元的安装座的左凸台上，所述的同轴连接器安装在所述固定座中部，所述的同轴连接器一端延伸出所述固定座的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述固定座的内表面；所述的测量单元包括测量单元座、微带电路板、载片以及锁孔；所述的测量单元座中部设置有凹槽，两个所述的载片分别固定于所述的凹槽的两侧，所述的微带电路板设置于所述的两个载片的之间位置；所述的微带电路板包括微带线和介质板；所述的测量单元安装于所述基座单元的两条滑轨上；所述的连接单元包括连接单元座、同轴连接器、丝杆、旋转手柄；所述的同轴连接器安装在所述连接单元座中部，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接单元座的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接单元座的内表面；所述的连接单元安装于所述基座单元的两条滑轨上，所述丝杆与所述安装座上的夹紧螺纹孔螺纹连接，所述丝杆的一端与连接单元座铰接，所述丝杆的另一端安装所述旋转手柄；所述的压紧单元包括压紧单元座、均衡压杆、锁舌和锁固机构；

所述的自校准高精度微波测量夹具还包括反射标准件、延时标准件和直通标准件，所述的校准方法包括下列步骤：

（1）将自校准高精度微波测量夹具连入测量系统中，取出所述的自校准高精度微波测量夹具的测量单元；

（2）将反射标准件放入自校准高精度微波测量夹具中测量单元的位置，使用网络分析仪进行反射校准，保存网络分析仪的反射校准状态，反射校准完成，取出反射标准件；

（3）将直通标准件放入自校准高精度微波测量夹具中测量单元的位置，使用网络分析仪进行直通校准，保存网络分析仪的直通校准状态，直通校准完成，取出直通标准件；

（4）将延时标准件放入自校准高精度微波测量夹具中测量单元的位置，使用网络分析仪进行延时校准，保存网络分析仪的延时校准状态，延时校准完成，取出延时标准件，将测量单元放回自校准高精度微波测量夹具的相应位置。