[发明专利]用于测量试件壁厚的电磁超声传感器及其测量方法有效
申请号: | 201110444492.X | 申请日: | 2011-12-26 |
公开(公告)号: | CN102564364B | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 武新军;丁旭 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01B17/02 | 分类号: | G01B17/02 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 朱仁玲 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 试件壁厚 电磁 超声 传感器 及其 测量方法 | ||
1.一种用于测量试件壁厚的电磁超声传感器,该电磁超声传感器包括:
上壳体;
下壳体,该下壳体与上壳体相互对接组合,且其底部具有二级阶梯孔;
激励平面线圈,该激励平面线圈设置在下壳体底部最深的阶梯孔内, 用于在放置于下壳体下方的试件内产生涡流;
接收平面线圈,该接收平面线圈设置在下壳体底部次深的阶梯孔内并 与所述激励平面线圈同轴层叠,用于感应试件中涡流产生的磁场变化并输 出电信号;
屏蔽层,该屏蔽层设置在所述接收平面线圈上,用于屏蔽所述激励平 面线圈上部的电磁场;
磁铁件,该磁铁件设置在所述屏蔽层上,用于产生垂直于试件表面的 偏置磁场;以及
接头,该接头安装在上壳体上,通过绝缘导线分别与所述激励平面线 圈和接收平面线圈相连,用于连接测厚仪以便执行对试件壁厚的测量;并 且所述接收平面线圈的轴向投影面积大于所述激励平面线圈的轴向投影面 积,且前者为后者的1.5~2倍。
2.如权利要求1所述的用于测量试件壁厚的电磁超声传感器,其特征 在于,所述磁铁件的极化面面积大于所述激励平面线圈的轴向投影面积, 且前者为后者的2~4倍。
3.如权利要求1或2所述的用于测量试件壁厚的电磁超声传感器,其 特征在于,所述接收平面线圈并联有两个反向的二极管,以限制接收平面 线圈输出的电压幅值。
4.如权利要求1或2所述的用于测量试件壁厚的电磁超声传感器,其 特征在于,所述上壳体由导电性金属制成并与所述接头的导电外壳接触相 连,由此与该接头连接至所述接收平面线圈的端子相连,该端子通过电缆 与测厚仪的电路地连接。
5.如权利要求4所述的用于测量试件壁厚的电磁超声传感器,其特征 在于,所述下壳体由非导电性的耐磨损耐高温塑料制成,且其直径为所述 激励平面线圈直径的2倍。
6.如权利要求1或2所述的用于测量试件壁厚的电磁超声传感器,其 特征在于,所述下壳体的阶梯孔各级的深度分别与其容纳的平面线圈的厚 度相等。
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