[发明专利]常温常压表面辅助激光解吸附质谱的高灵敏度检测方法无效
申请号: | 201110444632.3 | 申请日: | 2011-12-27 |
公开(公告)号: | CN102539515A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 刘虎威;张佳玲;周志贵;栗则;冯鲍盛;白玉 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | G01N27/64 | 分类号: | G01N27/64 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 | 代理人: | 贾晓玲 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 常温 常压 表面 辅助 激光 解吸 附质谱 灵敏度 检测 方法 | ||
1.一种激光解吸附质谱的检测方法,具体包括:
1)在滤纸任意表面涂覆一层石墨层,利用毛细管将液体样品点在石墨层表面;
2)将上述涂好样品的滤纸固定在三维移动平台;
3)利用激光解吸附质谱装置对滤纸表面的分析物进行检测。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤1)中,在滤纸表面用铅笔轻轻涂覆一层石墨层。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤3)中,所述激光解吸附质谱装置包括:实时直接分析离子源、三波长脉冲激光器和质谱质量检测器,其中,三波长脉冲激光器,用于将吸附在石墨表面的样品分子解吸附为气相样品分子;实时直接分析离子源,用于产生亚稳态的氦原子,氦原子与空气中的水分子作用产生水分子离子,继而水分子离子与气相样品分子之间发生质子交换,随后进入质谱质量检测器进行检测。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,实时直接分析离子源出口与质谱质量检测器接口在同一直线,三维移动平台位于该直线下方3~5mm。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述质谱质量检测器为安捷伦离子阱质谱检测器。
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