[发明专利]用于监测晶体生长的装置

说明书

技术领域

本发明涉及到一种用于监测晶体生长的装置。

背景技术

 晶体在我们日常生活中的应用越来越广泛，而且大多数晶体都是人工合成的。现有晶体的制作方法大都采用提拉法，为了确保晶体的质量，需要控制晶体在生长过程中的各种条件，而调控晶体生长条件的前提就是通过检查晶体在生长过程中重量的变化来判断是否需要改变晶体生长条件。原有方法都是通过人工观察晶体的直径变化来判断晶体的生长情况，由于提拉法中的晶体是需要旋转并同时上下移动的，这就对检测人员的眼力要求很高，但是在晶体上下移动并旋转的情况下，检测人员还是很难判断晶体的直径变化，很容易是检测人员发生眩晕。这样生产出来的晶体就很难保证其质量。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种自动监测晶体质量变化且在提升轴卡住的情况下不会损坏的用于监测晶体生长的装置。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种用于监测晶体生长的装置，包括支架和设置在支架内的提升轴、支架内顶端设置有称重传感器，所述称重传感器的下端固定设置有基座，基座内转动设置有从动吊装装置，从动吊装装置的上端位于基座内，其下端伸出基座，提升轴的上端通过轴承转动设置在从动吊装装置下端内，提升轴上套设有传动套，且传动套的上端位于从动吊装装置下端外侧，且传动套的上端与从动吊装装置的下端之间固定连接，传动套的下端从支架中穿出并于位于支架外部的驱动传动套转动的驱动装置相连，提升轴位于从动吊装装置内的外表面部位设置有槽，槽内设置有圆球，从动吊装装置内埋设有弹簧，该弹簧将圆球抵在槽内，提升轴的下端也从支架内穿出。

所述槽为腰形槽。

所述从动吊装装置包括转动设置基座内的短轴和与短轴相连的短套，短套位于基座下侧。

本发明的有益效果是：上述结构的晶体生产控制装置可自动监测晶体生长时的质量变化，而且晶体的旋转和上下移动不会影响其监测效果，同时提升轴的转动通过圆球的推动来实现，当提升轴卡住时，圆球被强行从提升轴的槽中挤出，使提升轴失去驱动力，避免提升轴强行转动而造成装置损坏。

附图说明

图1是本发明用于监测晶体生长的装置的结构示意图；

图2是图1中A处放大图。

图中：1、支架，2、提升轴，3、称重传感器，4、基座，5、短轴，6、短套，7、传动套，8、腰形槽，9、圆球，10、弹簧。

具体实施方式

下面结合附图，详细描述本发明的具体实施方案。

如图1所示，本发明所述的用于监测晶体生长的装置，包括支架1和设置在支架1内的提升轴2、支架1内顶端设置有称重传感器3，所述称重传感器3的下端固定设置有基座4，基座4内转动设置有从动吊装装置。从动吊装装置包括通过轴承转动设置基座4内的短轴5和与短轴相连的短套6，短套6位于基座4下侧。在实际生产时，短轴5也可跟短套6一体成型。提升轴2的上端设置在通过轴承设置短套6内。提升轴2上套设有传动套7，且传动套7的上端位于短套6外侧，且传动套7的上端与短套6之间固定连接。传动套7的下端从支架1中穿出并于位于支架1外部的可驱动传动套7转动的驱动装置（因现有技术，图中未示出）相连。如图2所示，所述提升轴2位于短套6的外表面部位沿提升轴2轴向设置有腰形槽8，腰形槽8内设置有圆球9，短套6内埋设有弹簧10，该弹簧10的一端将圆球9抵在腰形槽8内，提升轴12的下端也从支架1内穿出。

本发明的工作过程是：因为在提拉法和旋转法中，晶体在结晶的过程中需要旋转并上下移动，所以利用驱动装置驱动传动套7转动，传动套7带动短套6转动，短套6再带动短轴5在基座4内转动，称重传感器3在测量晶体重量时不受短轴5的转动影响。同时，短套6还通过被弹簧10抵住的圆球9带动提升轴2转动，随着提升轴2的转动，挂在提升轴2下端的晶体也开始转动。晶体的上下移动则通过上下移动用于监测晶体生长的装置和驱动装置来实现。上述工作过程中，称重传感器3不受影响，能很好的监测晶体的重量变化，从而给结晶条件提供一个很好的参考。如果在操作过程中，提升轴2的下端的晶体因碰到坩埚而转动受阻时，可强行将圆球11从腰形槽8中挤出，避免提升轴2被传动套7强行带动旋转而造成晶体破坏或整个装置受损。