[发明专利]一种等周期的温度测量计算查表方法

说明书

技术领域

本发明涉及工业温度自动测量领域，尤其涉及一种等周期的温度测量计算查表方法。

背景技术

在工业自动化温度测控系统中，工业生产过程温度参数测量计算时，常用微处理器查表法计算得到温度测量值。在工业上用热电阻测量温度比较普遍，并且测温元件类型为Pt100的铂电阻最为常用(由于铂电阻Pt100的线性度、稳定性好及准确度高)。一般用热电阻测量温度的方法常采用恒流源I经过被测电阻测量出电阻二端电压，再用公式R＝V/I方式测得电阻值，再用查表法得到对应的温度值。此方法测量原理，举例如下：

测出给定320Ω的高精度电阻对应的电压值V′_g为：

V′_g＝I*320            (1)

测出被测热电阻R′_t二端电压值V′_x为：

V′_x＝I*R′_t           (2)

根据(1)、(2)式，得到被测热电阻R′_t的阻值，即：

R′_t＝V′_x*320/V′_g    (3)

在实际温度测量系统中程序实现时，把式(3)中的V′_g、V′_x换成ADC(模/数转换器)测量得到的采样码即可。这样测出热电阻阻值后，再查阻值-温度对照表就可以得到温度测量值。因此，阻值-温度对照表的编制是程序实现的关键部分，既要达到工业测量0.1级高精度的要求，又要程序查表计算温度时间每次相同，并且简单、快速，实现温度测控系统控制周期可确定性的要求。

目前产品构造及工作原理：

以铂电阻Pt100为例，其它热电阻查表方法相同。下表1为测温元件类型为铂电阻Pt100的电阻温度对照表：

  电阻值(Ω)  温度值(℃)  ...  ...  245  393.9  250  408.5  255  423  260  437.7  265  452.4  270  467.2  275  482.1  280  497.1  285  512.1  290  527.2  295  542.4  300  557.7  305  573  310  588.5  315  604  320  619.6