[发明专利]一种利用积分球测量材料透射比的方法及装置有效
申请号: | 201110447669.1 | 申请日: | 2011-12-28 |
公开(公告)号: | CN102565008A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 黄达泉;詹今;李春业 | 申请(专利权)人: | 北京奥博泰科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59 |
代理公司: | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人: | 尹振启 |
地址: | 100070 北京市丰台区丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 积分 测量 材料 透射 方法 装置 | ||
1.一种利用积分球测量材料透射比的方法,其特征在于,该方法通过在积分球上设置补偿开口,使在测取空测值和实测值时的积分球内的漫反射条件一致,并最终通过计算得到精确的材料透射比。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法具体步骤如下:
1)通过在积分球上设置两个开口率相同,位置尽可能靠近,并且均不与积分球侧壁上设置的探测器或光源直对的工作开口;
2)在其中一个开口上放置有待测样品的状态下,测取实测值与空测值;
3)通过公式:透射比=实测值/空测值,计算得到待测样品的透射比。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法为漫射/垂直(d/0)测量方法。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法为垂直/漫射(0/d)测量方法。
5.一种利用积分球测量材料透射比的装置,其特征在于,该装置包括探测器、光源、积分球,探测器或光源设置在积分球侧壁上,积分球上设置有两个开口率相同,位置尽可能靠近,并且均不与积分球侧壁上设置的探测器或光源直对的工作开口;该装置在其中一个开口上放置有待测样品的状态下,测取实测值与空测值。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置为漫射/垂直(d/0)测量装置。
7.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置为垂直/漫射(0/d)测量装置。
8.一种利用积分球测量材料透射比的装置,其特征在于,该装置包括探测器、光源、积分球,探测器或光源设置在积分球侧壁上,积分球上设置有一个工作开口和若干个补偿开口,补偿开口的总开口率与工作开口的开口率相同,补偿开口的位置尽可能靠近工作开口并且不与积分球侧壁上设置的探测器或光源直对;该装置在补偿开口上放置有待测样品或与待测样品相同材料的状态下,由工作开口测取空测值,并在撤除补偿开口上的待测样品或与待测样品相同材料后,由工作开口测取实测值。
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