[发明专利]零部件的加工检测工艺无效

专利信息
申请号: 201110448871.6 申请日: 2011-12-28
公开(公告)号: CN103182626A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 邓云昌;丁力;赵军红 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司第六三一研究所
主分类号: B23P15/00 分类号: B23P15/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 姚敏杰
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 零部件 加工 检测 工艺
【权利要求书】:

1.一种零部件的加工检测工艺,其特征在于:所述零部件的加工检测工艺包括以下步骤:

1)下料;

2)确定零部件的尺寸链;

3)根据步骤2)中所确定的零部件的尺寸链对步骤1)的材料进行粗车;

4)对粗车后的材料进行热处理;

5)根据步骤2)中所确定的零部件的尺寸链进行精磨;

6)经步骤5)得到的产品进行电镀。

2.根据权利要求1所述的零部件的加工检测工艺,其特征在于:所述尺寸链是在零部件加工、测量或机器的装配过程中所遇到的一些相互联系的尺寸;所述这些相互联系的尺寸是按照一定顺序联接成封闭形式。

3.根据权利要求2所述的零部件的加工检测工艺,其特征在于:所述尺寸链中的各尺寸简称为环,所述尺寸链包括封闭环以及组成环;所述封闭环是在装配或加工过程中最后形成的一环;所述组成环是尺寸链中对封闭环有影响的全部环。

4.根据权利要求3所述的零部件的加工检测工艺,其特征在于:所述组成环包括增环以及减环;在其他组成环不变的条件时,所述增环增大,封闭环随之增大;在其他组成环不变的条件时,所述减环增大,封闭环随之减小。

5.根据权利要求4所述的零部件的加工检测工艺,其特征在于:所述封闭环是由封闭环的基本尺寸、封闭环的上偏差以及封闭环的下偏差确定;

所述封闭环的基本尺寸N等于所有增环Ai基本尺寸减去所有减环Bj,即:

N=ΣnAi-ΣnBj;]]>

所述封闭环的上偏差ESN等于所有增环上偏差ESAi之和减去所有减环下偏差EIBj之和,即:

ESN=ΣnESAi-ΣnEIBj;]]>

所述封闭环的下偏差EIN等于所有增环下偏差EIAi之和减去所有减环上偏差ESBj之和,即:

EIN=ΣnEIAi-ΣnESB;]]>

其中:i=1,2,3,4,5~N;j=1,2,3,4,5~N。

6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的零部件的加工检测工艺,其特征在于:所述零部件的加工检测工艺在步骤6)之后还包括:

7)根据步骤2)中所确定的零部件的尺寸链对步骤6)所得到的零部件进行二次精磨。

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