[发明专利]一种测量线圈天线匹配电容参数的方法有效
| 申请号： | 201110450237.6 | 申请日： | 2011-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN103185838A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 李伟 | 申请（专利权）人： | 国民技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 线圈 天线 匹配 电容 参数 方法 | ||
1.一种测量线圈天线匹配电容参数的方法，其通过接收天线接收待测天线的射频信号，接收天线连接到频谱仪，由频谱仪显示接收的射频信号的波峰频率，其特征在于，所述方法包括：
在待测线圈天线的匹配电路中连接可调节的串联匹配电容和并联匹配电容；
把待测匹配天线设置成持续发射载波模式，保证每次测试所述天线都位于所述接收天线上方相同的位置；
根据测量得到的信号波峰频率是否偏离设计载波频率，反复调节所述并联匹配电容和所述串联匹配电容改变所述待测天线谐振频率，直到测量得到的信号波峰频率与设计载波频率一致；
记录下测量得到的信号波峰频率与设计载波频率一致时的串联匹配电容和并联电容的电容值作为匹配电路所需电容值。
2.如权利要求1所述的测量线圈天线匹配电容参数的方法，其特征在于：增大并联匹配电容的电容值或串联匹配电容的电容值，以达到减小天线谐振频率值的目的，反之减小并联匹配电容的电容值或串联匹配电容的电容值，以达到增大天线谐振频率值的目的。
3.如权利要求1所述的测量线圈天线匹配电容参数的方法，其特征在于：所述串联匹配电容和并联匹配电容为10-100pf可调电容。
4.如权利要求1所述的测量线圈天线匹配电容参数的方法，其特征在于：测量时设置所述频谱仪的测量频率带宽为200MHz。
5.如权利要求2所述的测量线圈天线匹配电容参数的方法，其特征在于：所述调节所述并联匹配电容和所述串联匹配电容改变所述待测天线谐振频率包括：
调节所述并联匹配电容改变待测天线谐振频率使得所述谐振频率接近设计载波频率；
调节所述串联匹配电容进行天线谐振频率微调，直到所述谐振频率与所述设计载波频率一致。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国民技术股份有限公司，未经国民技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110450237.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
