[发明专利]一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法

权利要求书

1.一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法，其特征在于，针对多位随机翻转方式，包括以下几个步骤：

步骤一：初始配置；

测试开始后，首先控制器对被测芯片进行初始化配置；

步骤二：设定模拟辐射剂量和模拟辐射时间；

用户设定模拟辐射剂量和模拟辐射时间；

步骤三：确定翻转比特位，并且，随机翻转M位比特位；

上位机根据用户设定的模拟辐射剂量和模拟辐射时间，确定翻转比特位的数量为M，选择以当前系统时间为种子的随机函数，确定翻转位的随机位置，上位机发送随机翻转指令，控制器根据指令对被测芯片配置数据进行M位随机翻转，再将翻转位所在数据帧重配置到被测芯片，完成动态重配置；

步骤四：得到被测芯片输出结果；

动态重配置完成后，比较被测芯片输出结果和预知的正确结果，对被测芯片进行评测。

2.根据权利要求1所述的一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法，其特征在于，被测芯片为FPGA。

3.一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法，针对单位随机翻转方式，其特征在于，包括以下几个步骤：

步骤一：初始配置；

测试开始后，首先控制器对被测芯片进行初始化配置；

步骤二：进行一位随机翻转；

选择以当前系统时间为种子的随机函数，确定翻转位的随机位置，上位机发送随机翻转指令，控制器根据指令对被测芯片配置数据进行一位随机翻转，再将翻转位所在数据帧重配置到被测芯片，完成动态重配置，翻转数初始为1，以后每执行一次步骤二，翻转数N＝N+1；

步骤三：判断是否产生错误；

动态重配置完成后，比较被测芯片输出结果和预知的正确结果，若没有引起结果错误，则返回步骤二重复翻转和重配置过程，若检测发现结果错误，则将翻转数N上传至上位机；

步骤四：获取刷新周期；

上位机根据被测芯片发生单粒子效应的翻转率来获得配置存储单元的刷新周期，具体为：

翻转数N即为刷新阈值，根据(1)式获取电路设计的刷新周期：

P＝N/λ                                (1)

其中，N为通过单位随机故障注入累积获得的刷新阈值，单位为bit；λ为被测芯片的单粒子效应翻转率，单位为bit/day；最终获得用户电路设计的刷新周期P，单位为day。

4.根据权利要求3所述的一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法，其特征在于，被测芯片为FPGA。

5.根据权利要求3所述的一种针对SRAM型FPGA的随机翻转故障注入方法，其特征在于，重复步骤一至步骤四，经过多次测试，获取多个刷新周期P，取P的平均值，最终获得平均刷新周期。