[发明专利]一种太阳能电池组件PID的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及太阳能应用技术领域，特别涉及一种太阳能电池组件PID的测试方法。

背景技术

太阳能电池组件是由数个太阳能电池依次通过焊带焊接成电池串，并在电池串的首尾用汇流带拼焊连接成电池组件半成品设置在封装结构中，封装结构从上至下依次包括钢化玻璃、塑料膜(EVA)及聚氟乙烯复合膜(TPT)，再通过真空层封装而构成。

1978年Hoffman和Ross首次提出了高电压应力(High Voltage Stress，简写HVS)会对太阳能电池组件的长期稳定性产生影响，即电势导致性能降低(Potential-induced Degradation，简写PID)，时至2006年，随着科技的不断发展，人们已经意识到在高压情况下，电流泄漏会给太阳能电池组件系统带来较多的功率损失。

虽然，在IEC61215国际标准的认证流程中并未有对太阳能电池组件PID进行测试的规定，但是，近年来在太阳能电池组件系统的应用过程中，发生了诸多由于高压导致太阳能电池组件功率衰减的案例，其严重影响了太阳能电池组件在各应用领域的广泛使用和推广。因此，测试太阳能电池组件PID实为必要。

然而，目前在国内还尚未出现对太阳能电池组件PID进行测试的方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种安全可靠、评价合理准确的太阳能电池组件PID的测试方法。

本发明的目的通过以下的技术措施来实现：一种太阳能电池组件PID的测试方法，其特征在于包括以下步骤：

(1)测试并记录被测太阳能电池组件的初始数据；

(2)将被测太阳能电池组件安装在高低温实验环境箱内且二者之间做绝缘处理；

(3)将被测太阳能电池组件正负极短接后与高压加载设备的负极连接，太阳能电池组件的边框与高压加载设备的正极连接；

(4)启动高低温实验环境箱，开启高压加载设备并调试其输出电压值为600～1000V，同时开启电流监控仪进行漏电监控；

(5)持续设定时间后关闭高压加载设备及高低温实验环境箱，待被测太阳能电池组件的温度下降至室温后将其取出；

(6)测试并记录被测太阳能电池组件的最终数据；

(7)对比被测太阳能电池组件的初始数据与最终数据，评价功率衰减；

(8)测试完毕。

本发明的高低温实验环境箱可模拟不同温度、湿度等复杂的外界环境条件，还可由高压加载设备对太阳能电池组件施加长时间连续1000V直流电加载，因此本发明能够准确模拟太阳能电池组件在现实应用过程中受高电压应力影响的条件。

作为本发明的一种实施方式，所述初始数据包括电性能参数、EL缺陷参数及湿漏电参数，所述参数分别由电性能测试仪、EL缺陷测试仪及湿漏电测试仪测试得到。

作为本发明的优选实施方式，所述电性能测试仪具有3A级灯光源，所述EL缺陷测试仪具有1200万像素的照相装置。

作为本发明的一种实施方式，在所述步骤(2)中，绝缘处理是在将被测太阳能电池组件安装在测试架中之前，在被测太阳能电池组件的边框上加装绝缘护套。

为了获得被测太阳能电池组件上良好的电势均匀性，作为本发明的进一步改进，在进行所述步骤(2)之前，采用导电材料包覆在太阳能电池组件的边框上。

作为本发明推荐的方式，所述导电材料的电阻值小于1欧姆，可以采用铜箔、铝箔等。

本发明还具有以下实施方式，在所述步骤(5)中，设定时间为20小时，完成步骤(6)后，重复步骤(5)、(6)直至设定时间总和为100小时。

作为本发明的另一种实施方式，在所述步骤(5)中，设定时间为100小时。

本发明所述高低温实验环境箱内的温度为0～90℃，湿度为0～97％。

与现有技术相比，本发明具是有如下显著的效果：

(1)本发明的高低温实验环境箱可模拟不同温度、湿度等复杂的外界环境条件，还可由高压加载设备对太阳能电池组件施加长时间连续1000V直流电加载，因此本发明能够准确模拟太阳能电池组件在现实应用过程中受高电压应力影响的条件。

(2)本发明通过测试几组电性能参数、EL缺陷参数及湿漏电参数，比较并进行功率衰减评价来判断太阳能电池组件PID的具体情况，测试太阳能电池组件PID的准确度高。

(3)本发明太阳能电池组件与高低温实验环境箱之间做绝缘处理，具体是在太阳能电池组件的边框上加装绝缘护套，保障了测试的安全可靠性。