[发明专利]晶片固定装置、半导体设备和晶片固定方法在审
申请号: | 201110458094.3 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN103187348A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 刘利坚;李东三;张宝辉;韦刚;王伟 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 固定 装置 半导体设备 方法 | ||
1.一种晶片固定装置,其特征在于,包括:卡盘、卡盘电源和位于所述卡盘之上的托盘,其中:
所述卡盘内部设置有与所述卡盘电源连接的卡盘电极,
所述托盘包括托盘电极和包覆于所述托盘电极周围的绝缘体;
所述晶片固定装置用于在等离子启辉过程中将晶片吸附于所述托盘上以及使所述托盘吸附于所述卡盘上。
2.根据权利要求1所述的晶片固定装置,其特征在于,还包括:设置于所述托盘之上的托盘保护罩,所述托盘保护罩用于保护所述托盘。
3.根据权利要求2所述的晶片固定装置,其特征在于,还包括:设置于所述托盘保护罩之上的机械压环,所述机械压环用于将所述托盘固定于所述卡盘上。
4.根据权利要求1所述的晶片固定装置,其特征在于,所述卡盘内开设有热媒气体通道,所述托盘内开设有热媒气体孔;
所述热媒气体通道用于向所述卡盘和所述托盘之间导入热媒气体;
所述热媒气体孔用于向所述托盘和所述晶片之间导入所述热媒气体。
5.根据权利要求1所述的晶片固定装置,其特征在于,所述托盘电极的材料为金属导体;所述绝缘体是镀在所述托盘电极表面的绝缘膜或者是包覆在所述托盘电极表面的绝缘材料。
6.根据权利要求5所述的晶片固定装置,其特征在于,所述绝缘材料是陶瓷,所述绝缘膜是阳极氧化膜。
7.根据权利要求1至6任一所述的晶片固定装置,其特征在于,所述卡盘电极与所述托盘电极形成第一等效电容,所述托盘电极与在等离子启辉过程中所述晶片上表面形成的导电层形成第二等效电容,所述卡盘电源、所述第一等效电容和所述第二等效电容形成串联等效电容电路,所述卡盘电极和所述托盘电极之间产生静电引力以使所述托盘吸附于所述卡盘上,所述托盘电极和所述晶片上表面形成的导电层之间产生静电引力以使所述晶片吸附于所述托盘上。
8.根据权利要求7所述的晶片固定装置,其特征在于,所述卡盘电极和所述托盘电极之间的电压V4=V3*C2/(C1+C2),所述托盘电极和所述晶片上表面的导电层之间的电压V5=V3*C1/(C1+C2),其中,C1为所述第一等效电容的电容值,C2为所述第二等效电容的电容值,V3为所述卡盘电极和所述晶片上表面的导电层之间的电压。
9.根据权利要求8所述的晶片固定装置,其特征在于,所述卡盘电极和所述托盘电极之间的静电引力所述托盘电极和所述晶片上表面的导电层之间的静电引力其中,d1为所述卡盘电极和所述托盘电极之间的距离,d2为所述托盘电极和所述晶片上表面的导电层之间的距离。
10.一种半导体设备,其特征在于,包括反应腔室和设置于所述反应腔室内部的晶片固定装置,所述晶片固定装置采用权利要求1至9任一所述的晶片固定装置。
11.一种根据权利要求1所述的晶片固定装置的晶片固定方法,其特征在于,所述方法包括:
将晶片放置于所述托盘上;
所述卡盘电源向所述卡盘电极供电,在等离子体启辉过程中,所述卡盘电源、所述卡盘电极、所述托盘电极和晶片上表面由等离子体形成的导电层形成串联等效电容电路,以使所述晶片吸附于所述托盘上以及使所述托盘吸附于所述卡盘上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司,未经北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110458094.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:信息处理设备、信息处理方法和程序
- 下一篇:电站锅炉受热面设计方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造