[发明专利]制作透明传导氧化层和光伏器件的方法有效
申请号: | 201110460740.X | 申请日: | 2011-12-22 |
公开(公告)号: | CN102569064A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | H·A·布莱德斯;G·T·达拉科斯;D·W·费尔努伊;A·R·诺尔思拉普;J·C·罗霍;P·J·梅施特;彭红樱;曹洪波;奚衍罡;R·D·戈斯曼;张安平 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | H01L21/324 | 分类号: | H01L21/324;H01L31/20 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯广华;朱海煜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制作 透明 传导 氧化 器件 方法 | ||
1.一种方法,包括:
在支承上放置基本非晶氧化镉锡层;以及
在基本不存在来自外部源的镉的气氛中对所述基本非晶氧化镉锡层进行热处理以形成透明层,其中所述透明层具有小于约2x10-4Ohm-cm的电阻率。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述透明层的电阻率小于约1.8x10-4 Ohm-cm。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所述透明层的电阻率小于约1.5x10-4 Ohm-cm。
4.如权利要求1所述的方法,其中,所述基本非晶氧化镉锡层中的镉对锡的原子比小于约2.5∶1。
5.如权利要求1所述的方法,其中,所述基本非晶氧化镉锡层中的镉对锡的原子比等于或小于约2∶1。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述基本非晶氧化镉锡层中的镉对锡的原子比等于或小于约1.8∶1。
7.如权利要求1所述的方法,其中,所述基本非晶氧化镉锡层中的镉对锡的原子比介于约1.7∶1到约2.1的范围内。
8.如权利要求1所述的方法,其中,所述透明层包括具有基本单相尖晶石晶体结构的氧化镉锡。
9.如权利要求1所述的方法,其中,热处理包括以处理温度、在真空条件下及在足以允许形成所述透明层的持续时间内加热所述非晶氧化镉锡层。
10.如权利要求1所述的方法,其中,热处理包括以介于约500℃到约700℃范围内的处理温度加热所述基本非晶氧化镉锡层。
11.如权利要求1所述的方法,其中,热处理包括在介于约1分钟到约60分钟范围的持续时间内加热所述基本非晶氧化镉锡层。
12.如权利要求1所述的方法,其中,热处理在小于约500托的压力下进行。
13.如权利要求1所述的方法,其中,热处理在等于或小于约250托的压力下进行。
14.如权利要求1所述的方法,其中,放置基本非晶氧化镉锡层包括溅射、蒸发、化学气相沉积、旋涂或浸涂。
15.如权利要求1所述的方法,其中,放置基本非晶氧化镉锡层包括从具有镉对锡的原子比介于约1.5∶1到约2.5∶1的范围内的一个或多个靶进行溅射。
16.如权利要求1所述的方法,其中,放置基本非晶氧化镉锡层包括从具有镉对锡的原子比介于约1.5∶1到约2∶1的范围内的一个或多个靶进行溅射。
17.如权利要求1所述的方法,其中,放置基本非晶氧化镉锡层包括从包含氧化镉锡的单个靶进行溅射。
18.如权利要求1所述的方法,其中,放置基本非晶氧化镉锡层包括从包含镉和锡的单个靶进行反应溅射。
19.如权利要求1所述的方法,其中,所述透明层包括:
(a)包含氧化镉锡的第一区域;以及
(b)包含镉、锡和氧的第二区域,其中所述第二区域中镉的原子浓度低于所述第一区域中镉的原子浓度。
20.如权利要求1所述的方法,其中,所述透明层的厚度介于约100nm到约400nm的范围内。
21.如权利要求1所述的方法,其中,所述透明层的迁移率大于约45cm2/Vs。
22.如权利要求1所述的方法,其中,所述透明层的平均光透射大于约95%。
23.一种方法,包括:
通过从一个或多个靶进行反应溅射在支承上放置基本非晶氧化镉锡层;以及
在基本不存在来自外部源的镉的气氛中对所述基本非晶氧化镉锡层进行热处理以形成透明层,其中所述透明层具有小于约2x10-4Ohm-cm的电阻率。
24.如权利要求23所述的方法,其中,所述一个或多个靶中的镉对锡的原子比小于约2.5∶1。
25.如权利要求23所述的方法,其中,所述一个或多个靶中的镉对锡的原子比等于或小于约2∶1。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造