[发明专利]一种光探测器线性范围的测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种光探测器线性范围测试装置，包括光源和探测系统，其特征在于：在光源和探测系统之间设有光处理系统，所述光处理系统包括减光装置和分光装置，所述减光装置包括偏振片组，所述分光装置包括一个专用减光片或者一个分光镜片。

2.如权利要求1所述的线性范围测试装置，其特征在于：所述专用减光片可以移出或移入测试光路，通过将专用减光片交替移出和移入测试光路产生线性范围的两个变量。

3.如权利要求1所述的线性范围测试装置，其特征在于：所述分光镜片分别与被测探测器和参考探测器光学连接，用于将入射光分成测试光和参考光以得到线性范围的两个变量。

4.如权利要求1所述的线性范围测试装置，其特征在于：所述偏振片组中偏振片间的夹角依据探测器的输出信号强度进行调节。

5.如权利要求1至4中的任一项所述的线性范围测试装置，其特征在于：所述减光装置还包括可选减光片，在测试过程中根据需要选择使用。

6.如权利要求1至4中的任一项所述的线性范围测试装置，其特征在于：上述线性范围测试装置中，所述减光片为中性减光片。

7.如权利要求1至4中的任一项所述的线性范围测试装置，其特征在于：上述线性范围测试装置中，所述光源为单色光源，或准单色光源。

8.如权利要求1至4中的任一项所述的线性范围测试装置，其特征在于：上述线性范围测试装置中，所述测试装置还包括单色仪，所述单色仪位于光源和光处理系统之间。

9.一种光探测器线性范围的测试方法，包括如下步骤：首先，调节光处理系统，将专用减光片移出测试光路得到被测探测器的第一输出信号I₁；然后，将专用减光片移入测试光路得到被测探测器的第二输出信号I₂；最后，通过调节光处理系统得到不同光强下的第一输出信号和第二输出信号，并绘制第一输出信号与第二输出信号之比I₁/I₂与第一输出信号I₁的关系曲线，或绘制第一输出信号I₁与第二输出信号I₂的关系曲线。

10.一种光探测器线性范围测试结果的验证方法，包括如下步骤：首先，用分光镜片取代专用减光片，分光镜片分别与参考探测器和被测探测器光学连接；然后，通过光处理系统调节光强，测试不同光强下参考探测器与被测探测器的输出信号；最后，绘制参考探测器输出信号与被测探测器输出信号的线性关系。