[发明专利]脉冲和连续模式发射机的双激光功率级控制和校准系统有效

专利信息
申请号: 201110461309.7 申请日: 2011-10-29
公开(公告)号: CN102594459A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: J·C·阮;M·C·拉瓦;J·菲利普 申请(专利权)人: 马克西姆综合产品公司
主分类号: H04B10/17 分类号: H04B10/17;H04B10/08
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘春元;蒋骏
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 脉冲 连续 模式 发射机 激光 功率 控制 校准 系统
【权利要求书】:

1.一种控制光发射机的功率级的方法,包括:

提供第一信号路径,用于接收和过滤发射信号,所述发射信号还用于控制所述光发射机,所述第一信号路径包括第一放大器,所述第一放大器响应于所述发射信号和第一级控制信号提供表示第一逻辑状态的第一输出,以及响应于所述发射信号和级控制信号提供表示第二逻辑状态的第二输出;

提供第二信号路径,用于接收和过滤来自于监视所述光发射机的发射的监视二极管的信号;

如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号跟踪如在所述第二信号路径中过滤的监视二极管信号的频率响应;

差分地比较第一差分峰值检测器的输出、如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号和如在所述第二信号路径中过滤的所述监视二极管信号的上振幅,以产生第一误差信号,并且差分地比较第二差分峰值检测器的输出、如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号和如在所述第二信号路径中过滤的所述监视二极管信号的下振幅,以产生第二误差信号;

使用所述第一误差信号和所述第二误差信号来调整所述光发射机的高光功率级和低功率级以实现目标平均光功率级和消光比。

2.如权利要求1所述的方法,其中组合如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述上振幅与如在所述第二信号路径中过滤的所述监视二极管信号的上振幅之间的多个比较和如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的下振幅与如在所述第二信号路径中过滤的所述监视二极管信号的下振幅之间的多个比较以实现目标平均光功率级和消光比。

3.如权利要求2所述的方法,其中基于不同的数据串给予某些比较比其他比较更多的权重。

4.如权利要求3所述的方法,其中不同数据串由连续相同数字检测器检测。

5.如权利要求4所述的方法,其中所述连续相同数字检测器分离地检测第一逻辑状态的所述连续相同数字和第二逻辑状态的连续相同数字。

6.如权利要求3所述的方法,其中通过以下内容来检测所述数据串:

将如由所述第一差分峰值检测器输出的所述发射信号的所述上振幅与具有比所述第一差分峰值检测器更高的频率响应的第三峰值检测器的输出相比较,所述第三峰值检测器检测如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述上振幅;以及

将如由所述第二差分峰值检测器输出的所述发射信号的所述下振幅与具有比所述第二差分峰值检测器更高的频率响应的第四峰值检测器的输出相比较,所述第四峰值检测器检测如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述下振幅;

或者

将如由所述第一差分峰值检测器输出的所述监视二极管信号的所述上振幅与具有比所述第一差分峰值检测器更高的频率响应的第三峰值检测器的输出相比较,所述第三峰值检测器检测如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述上振幅;以及

将如由所述第二差分峰值检测器输出的所述发射信号的所述下振幅与具有比所述第二差分峰值检测器更高的频率响应的第四峰值检测器的输出相比较,所述第四峰值检测器检测如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述下振幅。

7.如权利要求3所述的方法,其中通过以下内容来检测所述数据串:

将如由所述第一差分峰值检测器输出的所述发射信号的所述上振幅与具有比所述第一差分峰值检测器更高的频率响应的第三峰值检测器的输出相比较,所述第三峰值检测器检测如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述上振幅;以及

将如由所述第二差分峰值检测器输出的所述发射信号的所述下振幅与具有比所述第二差分峰值检测器更高的频率响应的第四峰值检测器的输出的相比较,所述第四峰值检测器检测如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述下振幅。

8.如权利要求1所述的方法,其中如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述上振幅与如在所述第二信号路径中过滤的所述监视二极管信号的所述上振幅的比较的测量以及如在所述第一信号路径中过滤的所述发射信号的所述下振幅和如在所述第二信号路径中过滤的所述监视二极管信号的所述下振幅的比较的测量作为反馈信号反馈到所述第一信号路径中的所述第一放大器作为所述第一和第二级控制信号。

9.如权利要求8所述的方法,进一步包括响应于所述反馈信号来监视信号输出,所述反馈信号是所述光发射机的所述高光功率级和所述低光功率级的指示。

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