[发明专利]检测开关构造和具有该检测开关构造的连接器

说明书

技术领域

本发明涉及检测开关构造和具有该检测开关构造的连接器，其中，检测开关构造由相互接触的金属制的固定接触件和金属制的可动接触件构成。

背景技术

一直以来，例如，在容纳存储卡或SIM(加入者识别模块)卡等卡的卡连接器等中，一般具有用于检测该卡的插入的检测开关构造。

例如，在专利文献1中，公开了具有一对接点部件的卡插座，该一对接点部件构成用于检测卡插入的检测开关。在该卡插座，如果将卡插入卡插座内，则卡的前端角部抵接于一方的接点部件的斜面部。而且，该一方的接点部件位移，该接点部件的第1接点与另一方的接点部件的第2接点进行摩擦(wiping)接触，检测开关接通。由此，能够检测卡的插入。

另外，在专利文献2中，公开了带有开关的同轴连接器，该同轴连接器具有配设于绝缘性的壳体的内部的开关机构。开关机构由连接板和切换弹簧构成。连接板具有固定于壳体的固定部、从固定部延伸的平板状接触部以及从固定部延伸并连接于电路基板的连接部。另外，切换弹簧具备固定于壳体的固定部、从固定部延伸的弹性臂部、从弹性臂部延伸而与前述接触部接触的接触片以及从固定部延伸并连接于电路基板的连接部。切换弹簧的接触片，当匹配销未插入壳体内时，与连接板的平板状接触部接触。另外，关于切换弹簧的接触片，如果匹配销插入壳体内，则接触片由于匹配销而从接触板的平板状接触部离开，接触状态被解除。

再者，在专利文献3中，公开了具有检测开关的存储卡和SIM卡用的安装插座。检测开关一体地形成于从上下夹着插座本体的上侧金属壳体和下侧金属板。检测开关具备从上侧金属壳体延伸的弹性弯曲片，以及从下侧金属板延伸并与弹性弯曲片接触的垂直接触突起。当存储卡或SIM卡未插入插座内时，弹性弯曲片与垂直接触突起接触。如果该卡插入插座内，则弹性弯曲片由于该卡而位移至上方并从垂直接触突起离开，接触状态被解除。由此，检测卡的插入。

专利文献1：日本特开2002-324629号公报

专利文献2：日本特开2006-66281号公报

专利文献3：日本特开2008-299854号公报

发明内容

然而，在这些现有的专利文献1所记载的卡插座、专利文献2所记载的带有开关的同轴连接器以及专利文献3所记载的存储卡和SIM卡用的安装插座中，存在着以下问题。

即，对于专利文献1所记载的卡插座而言，由于在检测卡插入时，一方的接点部件的第1接点与另一方的接点部件的第2接点进行摩擦接触，因而有必要使两接点部件的位移量多。因此，存在着卡插座的尺寸的缩小化较困难的问题。

另外，对于专利文献2所记载的带有开关的同轴连接器而言，切换弹簧的接触片和连接板的平板状接触部的接触，成为沿着该接触片的板厚方向的线和平板状接触部的面的线-面接触。因此，存在着接触时的赫兹应力(Hertz stress)低的问题。如果赫兹应力低，则接触片和平板状接触部的接触力不足，因而有必要为了提高接触可靠性而增大该接触力。为了增大该接触力，存在着有必要使接触片的板厚变大等使接触片变大，连接器自身的大小变大的问题。另外，在以使接触片的接触力变大的状态将接触片支撑于壳体的情况下，存在着如果回流焊接时壳体应力缓和，则壳体的变形变大的问题。所以，即使减少接触片的负荷，为了确保接触片和接触部的接触力，也期望使赫兹应力变大。

再者，对于专利文献3所记载的存储卡和SIM卡用的安装插座而言，弹性弯曲片和垂直接触突起的接触，也成为弹性弯曲片的面和垂直接触突起的面或线的面-面或面-线接触。因此，存在着接触时的赫兹应力低的问题。

所以，本发明是鉴于这些问题点而完成的，其目的在于，提供一种检测开关构造和具有该检测开关构造的连接器，该检测开关构造在接触时不需要摩擦而能够小型化，并且，获得大的赫兹应力，接触可靠性高。

为了达成上述目的，本发明中的技术方案1涉及的检测开关构造，由相互接触的金属制的固定接触件和金属制的可动接触件构成，当被检测体卡合于前述可动接触件时驱动前述可动接触件而解除前述可动接触件和前述固定接触件的接触状态，其特征在于，前述固定接触件和前述可动接触件的接触，通过前述固定接触件的角部和前述可动接触件的一面或者前述固定接触件的一面和前述可动接触件的角部接触而达成。

另外，本发明中的技术方案2涉及的连接器，是具有技术方案1记载的检测开关构造的连接器，其特征在于，前述固定接触件固定于容纳前述被检测体的壳体，前述可动接触件安装于前述壳体，并从覆盖前述壳体的至少一部分的金属制的外罩延伸。