[实用新型]一种可更换式内存测试座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种内存测试座，具体是一种可实现同时对多个内存测试的可更换式内存测试座。

背景技术

闪存(FLASH)是一种广泛用于U盘、移动硬盘、SD卡、TF卡、GPS、数码相机、DV等各种日常数码必备品的重要的元器件，其封装有多种方式，比较典型的有TSOP，BGA，LGA等类型。在生产过程中内存都需要经过检测后才可以投入市场，但是现有的检测量产设备结构单一，需要针对各种不同类型的内存，以及各种内存不同的测试方案分别独立制造测试座进行测试，不但测试效率低下，而且制造多套测试设备造价高，浪费大量生产成本。

实用新型内容

针对现有内存测试设备的不足，本实用新型提供一种可更换式内存测试座，其可实现同时对多种不同内存，不同测试方案进行检测，大大提高检测效率，降低了生产检测成本。

为实现该目的，本实用采取的技术方案是：一种可更换式内存测试座，包括PCB板、PCB板上固定的测试座以及连接至电脑的USB接口，所述测试座为两个或两个以上，所述各测试座分别连接至USB座，USB座上连接测试方案，所述USB座通过集线器与所述USB接口连接。

实现本实用新型目的的技术方案还进一步包括，所述测试座与USB座位于PCB板的异侧。

并且，所述各测试座分别对应设有状态指示灯及控制开关。

本实用新型在同一PCB板上同时集成多种不同的内存测试座，并且采用插接的方式连接各种不同的测试方案，从而可实现同时对多种不同的内存，单种或多种内存不同的测试方案同时进行测试的目的，不但大大提高检测效率，而且无需制造多个测试设备，降低了企业生产检测成本。

附图说明

图1为本实用新型主视图。

图2为本实用新型后视图。

图3为本实用新型与电脑连接示意图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型结构及工作原理进行详细说明。

如图1、图2所示，本实用新型所述测试座包括PCB板1、PCB板上固定的测试座3以及连接至电脑的USB接口2。所述测试座3包括针对以TSOP，BGA，LGA等多种方式封装的内存的测试座，实现了在同一测试板上测试多种内存的目的，且所述测试座3为两个或两个以上，由于各测试方案商提供的检测量产程序最佳量产对象个数为16，因此，本实用新型以16个测试座为实施例，测试座为四个，八个，三十二个，六十四个等数目时，其结构原理与本实用新型完全相同，只需对PCB线路进行简单的重复即可。各测试座3分别对应设有控制开关4，用于实现批量或者单独控制此测试对象的工作，并同时设状态指示灯5，显示该测试座的工作状态。

所述各测试座3分别连接至USB座6，本实用新型优选将USB座6设于PCB板1的异侧。各USB座6通过集线器8与所述USB接口2连接，USB座6上可分别连接各种测试方案7。

测试时，将本实用新型USB接口2通过USB连接线9连接至电脑10，如图3，在各测试座上分别插装待测试的内存，并在USB座上插接待测试内存的测试方案，即可实现同时对多种不同的内存，单种或多种内存不同的测试方案同时进行测试的目的，大大提高了检测效率。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。