[实用新型]一种上卷式工业底片专用扫描仪无效

专利信息
申请号: 201120010178.6 申请日: 2011-01-13
公开(公告)号: CN202059474U 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 闫志鸿;李元香;宋永伦 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H04N1/00 分类号: H04N1/00;H04N1/028;G03B15/05
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 魏聿珠
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 上卷 工业 底片 专用 扫描仪
【说明书】:

技术领域

发明是一种上卷式工业底片专用扫描仪,用于实现对工业X射线底片数字化系统。

背景技术

通过工业X射线底片对工件进行评定是目前工业X射线探伤中最常用的方法。但是,评片过程通常是手工操作,人为因素的影响大;另外,对于许多重要产品,如锅炉、压力容器、船舶、航空航天等领域的结构件,需要在使用过程中定期多次探伤,而由于底片难于长时间保存,不利于这些结构件的长期监控。因此,需要有一种专用的底片数字化方法。

以往的X射线底片数字化方法有以下一些形式:一是基于面阵CCD的底片采集,经过模数转换,将图像直接转变为数字信号,由计算机进行整体控制和数据存储。但是由于面阵CCD对长条形的X射线底片进行采集,一次采集的分辨率很难满足X射线检测的要求,国内采用多面阵CCD进行采集,将多个面阵CCD排成阵列,在同步信号和采集控制信号的指挥下采集图像,或是用单个面阵CCD进行采集,将采集的图像进行后期拼接,这便加大了图像的后续处理难度和复杂度。

发明内容

本发明涉及一种上卷式工业X底片专用扫描仪,其目的在于针对工业领域的X射线探伤底片的数字化成像,以利于观察X射线底片中肉眼所无法观察的信息。

为了实现上述目的,本发明采取了如下技术方案:

一种上卷式工业X底片专用扫描仪,该装置的总体构成包括基板14、箱体10、底片传送机构3、光源系统、非接触式密度计13、电机5、线阵CCD7、控制板和计算机;在基板14上固定有箱体10,箱体10一侧的下部开有底片入口,箱体内固定有底片传送机构,箱体顶部开有底片出口;其中光源系统包括光源1、光纤2、光纤固定装置12和控制板;光纤夹在光纤固定装置12上,光纤固定装置12包括光纤固定A16、光纤固定B17、光纤固定C18、光纤固定D19,如图3所示,光纤固定A16通过螺钉固定在基板14的导槽中,螺钉在导槽中移动,从而改变光纤2与底片11之间的水平距离,光纤2夹在光纤固定D19中,光纤固定D19通过螺钉固定在光纤固定C18的弧形槽中,这样就可以改变光纤2跟底片11的角度;控制板通过RS232通信模式与计算机连接,计算机控制其电流大小,驱动大功率LED光源1发出均匀稳定的光;底片传送机构由粗辊20、细辊21组成,如图4所示,其保证底片的导向;包括光源1、底片11和线阵CCD7依次水平排布,光源1位于底片的一侧,线阵CCD7位于底片的另一侧;电机5通过连轴器与底片传送机构3连接;非接触式密度计13与控制板通过I/O口进行数据传输,控制板与计算机通过RS232通信;底片在传送过程中设有三个光电开关,分别控制电机5的启动与停止,光源的打开与关闭,线阵CCD的图像采集;

底片传送机构3为上卷式传动机构,底片在箱体下方入口处进入传送机构,经过卷动方式传送,出口在箱体上方。

底片入口处有非接触式密度计13,非接触式密度计13通过控制板跟计算机相连组成自适应曝光时间调节系统,根据底片密度由计算机自行调节CCD的曝光时间。

电机5是伺服电机,电机5跟底片传送机构3通过联轴器相连。

镜头6安装在线阵CCD 7上,可调光圈、焦距及放大倍率;线阵CCD 7安装在相机位置调节装置8上,可以调节CCD的水平位置与垂直高度。

本发明可取得如下积极效果:

采用均匀线形LED强光冷光源透射底片提供照明,不会对底片造成热损伤,并且使用工业用线阵CCD对底片采像,采集图像实时传送至计算机;

操作者可以通过计算机发出控制指令,驱动光源系统,调节不同黑度底片所需亮度;

恒流驱动光源使得光源发出的光强更稳定持久;

底片进入传动机构之前触发自适应曝光时间调节系统,根据成像底片的密度自行调节CCD的曝光时间;自适应曝光时间调节系统采用非接触式密度计,避免接触式密度计对底片造成的挤压损伤;

上卷式传动机构可以方便操作者把底片送入扫描仪,并方便取回,避免了计算机控制与底片送入与取回时的同时动作之间的不便。

采用三个光电开关进行信号的触发,实现整个采像过程的自动化;

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为本实用新型的控制流程示意图;

图3为本实用新型的光纤固定装置示意图;

图4为本实用新型的底片传送装置示意图;

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